技术泄密检测概述:检测项目1.电磁辐射泄漏强度:测量30MHz-6GHz频段内设备工作时产生的电磁波强度(单位dBμV/m),阈值≤40dBμV/m(GB9254-2008ClassB)2.数据残留恢复率:采用磁力显微镜扫描存储介质表面磁道残留数据量(分辨率10nm),残留量阈值≤0.1%(ISO/IEC27040)3.硬件逆向工程防护等级:通过X射线断层扫描(精度5μm)评估芯片封装抗物理破解能力(ASTMF2357-04)4.网络协议漏洞密度:基于模糊测试工具统计TCP/IP协议栈每千行代码漏洞数(CVE收录漏洞≤3个
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.电磁辐射泄漏强度:测量30MHz-6GHz频段内设备工作时产生的电磁波强度(单位dBμV/m),阈值≤40dBμV/m(GB9254-2008ClassB)
2.数据残留恢复率:采用磁力显微镜扫描存储介质表面磁道残留数据量(分辨率10nm),残留量阈值≤0.1%(ISO/IEC27040)
3.硬件逆向工程防护等级:通过X射线断层扫描(精度5μm)评估芯片封装抗物理破解能力(ASTMF2357-04)
4.网络协议漏洞密度:基于模糊测试工具统计TCP/IP协议栈每千行代码漏洞数(CVE收录漏洞≤3个/万行)
5.声光信号泄露指数:使用激光干涉仪测量设备运行声波特征(频率范围20Hz-20kHz),偏差值需<5%基准值
1.消费电子类:智能手机主板、智能穿戴设备传感器模块
2.存储介质类:企业级SSD固态硬盘、磁带备份系统
3.工业控制类:PLC控制器电路板、DCS系统通信模块
4.通信设备类:5G基站射频单元、光纤传输中继器
5.销毁设备类:碎纸机残留物(碎片尺寸≤2mm)、消磁机残余磁场强度(≤3高斯)
1.TEMPEST测试:依据NATOSDIP-27LevelA标准执行辐射发射测试
2.数据擦除验证:采用NISTSP800-88Rev.1Clear/Purge三级验证流程
3.芯片安全分析:应用JEDECJESD22-A115F标准进行离子束刻蚀逆向工程测试
4.协议模糊测试:基于RFC2544网络性能基准实施自动化渗透测试
5.物理破坏测试:执行GB/T36323-2018规定的机械粉碎粒度分析
1.KeysightN9041B频谱分析仪:支持DC-44GHz宽频段扫描,最小分辨率带宽1Hz
2.FEIHeliosG4UX聚焦离子束系统:具备5nm级芯片逐层剥离成像能力
3.Rohde&SchwarzCMW500通信测试仪:支持5GNRFR1/FR2全频段协议解析
4.ThermoFisherPrismaESEM扫描电镜:配备EDX能谱分析模块(元素检出限0.1wt%)
5.BlanccoDriveEraser数据擦除验证平台:支持NVMe/SAS/SCSI接口全盘覆写验证
6.FlukeTi450红外热像仪:热灵敏度50mK@30Hz帧率
7.Agilent4294A阻抗分析仪:频率范围40Hz-110MHz,基本精度0.08%
8.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:垂直分辨率0.1nm,扫描面积100100mm
9.CellebriteUFEDTouch2物理提取设备:支持30000+移动设备芯片级数据提取
10.NationalInstrumentsPXIe-5164数字化仪:14位分辨率,带宽1GHz
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与技术泄密检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。