喇曼位移检测概述:检测项目1.晶体结构分析:检测晶格振动模式(100-1500cm⁻),分辨率≤1cm⁻2.化学成分鉴定:识别特征峰位(200-3500cm⁻),误差范围2cm⁻3.应力分布测量:硅材料特征峰偏移量(5cm⁻/GPa)4.多晶型鉴别:特征峰强度比分析(峰面积误差<3%)5.薄膜厚度测定:纵向空间分辨率达0.5μm检测范围1.半导体材料:硅/锗单晶片、GaN外延层2.纳米材料:碳纳米管(径向呼吸模160-300cm⁻)、石墨烯(G峰1580cm⁻)3.高分子材料:聚乙烯结晶度(1415/1460cm⁻峰强比)
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.晶体结构分析:检测晶格振动模式(100-1500cm⁻),分辨率≤1cm⁻
2.化学成分鉴定:识别特征峰位(200-3500cm⁻),误差范围2cm⁻
3.应力分布测量:硅材料特征峰偏移量(5cm⁻/GPa)
4.多晶型鉴别:特征峰强度比分析(峰面积误差<3%)
5.薄膜厚度测定:纵向空间分辨率达0.5μm
1.半导体材料:硅/锗单晶片、GaN外延层
2.纳米材料:碳纳米管(径向呼吸模160-300cm⁻)、石墨烯(G峰1580cm⁻)
3.高分子材料:聚乙烯结晶度(1415/1460cm⁻峰强比)
4.生物样品:蛋白质二级结构(酰胺I带1600-1700cm⁻)
5.药物成分:多晶型鉴别(特征峰位移>3cm⁻)
ASTME1840-18:拉曼光谱仪性能验证标准
ISO20310:2018:碳材料石墨化度测定方法
GB/T36082-2018:纳米材料表面化学基团定量分析
GB/T39489-2020:半导体晶圆应力测试规程
JISK0137-2016:高分子材料结晶度测定通则
1.RenishawinViaQontor:532/785nm双激光系统,空间分辨率0.2μm
2.ThermoFisherDXR3:自动聚焦系统(Z轴精度0.1μm)
3.HoribaLabRAMHREvolution:紫外波段325nm激光源
4.BrukerSENTERRAII:共焦孔径可调(10-100μm)
5.WITecalpha300R:快速成像模式(500spectra/s)
6.OceanInsightQEPro-Raman:光纤耦合便携式系统
7.AgilentResolve:手持式拉曼仪(1064nm激发波长)
8.JASCONRS-5500:低温恒温附件(-196℃~600℃)
9.ZolixFinderEdge:显微拉曼光谱成像系统
10.MetrohmMiraM-3:工业在线监测专用机型
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与喇曼位移检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。