二氘检测概述:检测项目1.氘同位素丰度测定:测量H与H的原子百分比比,精度0.01%,浓度范围0.1ppm至99.9%D/H。2.痕量氘杂质分析:针对高纯材料中H含量检测,检出限≤0.001ppm(如超纯水、半导体级气体)。3.氘代化合物结构表征:通过分子振动谱分析C-D键取代率(≥95%),验证合成产物纯度。4.氘扩散系数测试:评估金属/合金中H渗透速率(10⁻至10⁻⁶m/s),温度范围-50℃至800℃。5.同位素示踪稳定性研究:监测生物样本中H标记物代谢半衰期(1小时至30天),误差≤5%。检测范围1.核工业材
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1.氘同位素丰度测定:测量H与H的原子百分比比,精度0.01%,浓度范围0.1ppm至99.9%D/H。
2.痕量氘杂质分析:针对高纯材料中H含量检测,检出限≤0.001ppm(如超纯水、半导体级气体)。
3.氘代化合物结构表征:通过分子振动谱分析C-D键取代率(≥95%),验证合成产物纯度。
4.氘扩散系数测试:评估金属/合金中H渗透速率(10⁻至10⁻⁶m/s),温度范围-50℃至800℃。
5.同位素示踪稳定性研究:监测生物样本中H标记物代谢半衰期(1小时至30天),误差≤5%。
1.核工业材料:重水(D₂O)、锆合金包壳管、核燃料棒涂层中的氘渗透量。
2.半导体材料:高纯硅晶圆、砷化镓外延层及刻蚀气体(如CD₄)的氘污染控制。
3.医药中间体:氘代药物分子(如Deutetrabenazine)的取代位点验证与批次一致性检验。
4.新能源材料:锂离子电池电解液(LiPF₆/D₂O体系)的氘化程度与电化学稳定性关联分析。
5.环境样本:大气水汽、极地冰芯中D/H比值的气候变化示踪研究。
1.质谱法:依据ASTMD2184-21《水中氘同位素比测定》及GB/T14852-2010《气体中微量水分的测定》,采用双路进样系统消除记忆效应。
2.核磁共振法(NMR):参照ISO24583:2022《氘代药物定量分析方法》,以DSS(2,2-二甲基-2-硅戊烷-5-磺酸钠)为内标物。
3.激光拉曼光谱法:基于GB/T3637-2019《氢气中杂质含量的测定》,通过C-D键特征峰(2040-2300cm⁻)进行原位分析。
4.热脱附色谱法:按ASTMF313-18《半导体材料气体杂质测试规范》,结合Pd-Ag膜分离技术实现ppb级检测。
5.中子活化分析:采用ISO21438-3:2021标准,利用He探测器测量H(n,γ)H反应截面数据。
1.ThermoScientificDeltaVAdvantage同位素质谱仪:配备双灯丝离子源,质量分辨率≥200(10%峰谷),用于D/H比值精确测定。
2.BrukerAvanceIIIHD600MHzNMR谱仪:配置QCI-FCryoProbe探头,实现C/H双共振模式下的分子结构解析。
3.Agilent7890B气相色谱-质谱联用仪:搭配G3440BTCD检测器,可分析含氘气体混合物组分(H₂/D₂/HD)。
4.RenishawinViaQontor共聚焦拉曼系统:785nm激光器配合EMCCD探测器,空间分辨率达0.5μm。
5.LECOONH836氧氮氢分析仪:采用惰性熔融技术,测量金属中溶解氘含量(0.01-100ppm)。
6.PerkinElmerNexION350SICP-MS:配备动态反应池(DRC),消除ArH⁺干扰实现超痕量H定量。
7.HidenHPR-20QIC微量气体分析仪:集成四极杆质谱与真空紫外光源(VUV),用于D₂/HD/H₂混合气体实时监测。
8.MettlerToledoDL39KarlFischer滴定仪:采用双铂电极库仑法测定D₂O含量(0.001%-100%)。
9.ShimadzuAIM-9000红外成像显微镜:搭配MCT探测器(640512像素),实现微区C-D键分布可视化。
10.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:结合EDS-EBSD联用系统,分析氘致金属氢脆微观形貌。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与二氘检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。