检测项目

1.饱和磁化强度（Ms）：测量范围0.1-2.5T，精度0.5%
2.矫顽力（Hc）：横向/纵向分量测定，分辨率达0.1Oe
3.磁滞回线特性：最大磁场20kOe，扫描速率0.1-100Oe/s
4.磁导率（μ）：频率范围20Hz-1MHz
5.薄膜厚度均匀性：台阶仪测量精度0.5nm

检测范围

1.纳米晶软磁合金薄膜（FeSiB、CoZrNb系）
2.磁记录介质（CoCrPt-SiO2垂直记录层）
3.巨磁阻传感器用多层膜（Fe/Cu、CoFe/NiFe）
4.微波吸收材料（FeNiMo/SiO2复合膜）
5.自旋电子器件用铁磁/非磁异质结（CoFeB/MgO）

检测方法

1.ASTMA894：振动样品磁强计法测定饱和磁矩
2.ISO21726：交变梯度磁强计测量薄膜矫顽力
3.GB/T13888-2020：磁光克尔效应测试各向异性常数
4.IEC60404-7：薄膜电阻率与磁致伸缩系数关联测试
5.GB/T3656-2008：铁磁共振法测定阻尼系数

检测设备

1.QuantumDesignPPMSDynaCool：综合物性测量系统（DC-14T磁场）
2.LakeShore7300系列VSM：灵敏度10^-6emu
3.BrukerDimensionIconMFM：空间分辨率10nm
4.OxfordInstrumentsMagLabEXA：宽频阻抗分析仪（1mHz-5MHz）
5.KeysightB1500A半导体分析仪：I-V/C-V特性测试模块
6.KLATencorP-7台阶仪：0.1垂直分辨率
7.NeoceraCryogen-FreeLHe系统：低温环境控制（4K-400K）
8.HitachiHF5000透射电镜：配备洛伦兹透镜的磁畴观测
9.RHKTechnologyXA系列SPM：原位磁场加载模块
10.AgilentN5247A网络分析仪：铁磁共振谱测试系统