铁磁性薄膜检测概述:检测项目1.饱和磁化强度(Ms):测量范围0.1-2.5T,精度0.5%2.矫顽力(Hc):横向/纵向分量测定,分辨率达0.1Oe3.磁滞回线特性:最大磁场20kOe,扫描速率0.1-100Oe/s4.磁导率(μ):频率范围20Hz-1MHz5.薄膜厚度均匀性:台阶仪测量精度0.5nm检测范围1.纳米晶软磁合金薄膜(FeSiB、CoZrNb系)2.磁记录介质(CoCrPt-SiO2垂直记录层)3.巨磁阻传感器用多层膜(Fe/Cu、CoFe/NiFe)4.微波吸收材料(FeNiMo/SiO2复合膜)5.自旋
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1.饱和磁化强度(Ms):测量范围0.1-2.5T,精度0.5%
2.矫顽力(Hc):横向/纵向分量测定,分辨率达0.1Oe
3.磁滞回线特性:最大磁场20kOe,扫描速率0.1-100Oe/s
4.磁导率(μ):频率范围20Hz-1MHz
5.薄膜厚度均匀性:台阶仪测量精度0.5nm
1.纳米晶软磁合金薄膜(FeSiB、CoZrNb系)
2.磁记录介质(CoCrPt-SiO2垂直记录层)
3.巨磁阻传感器用多层膜(Fe/Cu、CoFe/NiFe)
4.微波吸收材料(FeNiMo/SiO2复合膜)
5.自旋电子器件用铁磁/非磁异质结(CoFeB/MgO)
1.ASTMA894:振动样品磁强计法测定饱和磁矩
2.ISO21726:交变梯度磁强计测量薄膜矫顽力
3.GB/T13888-2020:磁光克尔效应测试各向异性常数
4.IEC60404-7:薄膜电阻率与磁致伸缩系数关联测试
5.GB/T3656-2008:铁磁共振法测定阻尼系数
1.QuantumDesignPPMSDynaCool:综合物性测量系统(DC-14T磁场)
2.LakeShore7300系列VSM:灵敏度10-6emu
3.BrukerDimensionIconMFM:空间分辨率10nm
4.OxfordInstrumentsMagLabEXA:宽频阻抗分析仪(1mHz-5MHz)
5.KeysightB1500A半导体分析仪:I-V/C-V特性测试模块
6.KLATencorP-7台阶仪:0.1垂直分辨率
7.NeoceraCryogen-FreeLHe系统:低温环境控制(4K-400K)
8.HitachiHF5000透射电镜:配备洛伦兹透镜的磁畴观测
9.RHKTechnologyXA系列SPM:原位磁场加载模块
10.AgilentN5247A网络分析仪:铁磁共振谱测试系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与铁磁性薄膜检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。