单极集成电路检测概述:检测项目1.直流参数测试:包含输入/输出电平(15V)、静态电流(0.1μA-10mA)、导通电阻(≤50mΩ)2.交流特性分析:频率响应(DC-1GHz)、上升/下降时间(≤5ns)、传输延迟(≤20ns)3.温度特性测试:工作温度范围(-55℃~+125℃)、热阻(θJA≤50℃/W)4.封装可靠性验证:气密性(氦质谱检漏率≤510⁻⁸Pam/s)、抗机械冲击(1500G/0.5ms)5.长期稳定性评估:高温存储(168h@150℃)、温度循环(-65℃~+150℃/1000次)检测范围1.通信系统用
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.直流参数测试:包含输入/输出电平(15V)、静态电流(0.1μA-10mA)、导通电阻(≤50mΩ)
2.交流特性分析:频率响应(DC-1GHz)、上升/下降时间(≤5ns)、传输延迟(≤20ns)
3.温度特性测试:工作温度范围(-55℃~+125℃)、热阻(θJA≤50℃/W)
4.封装可靠性验证:气密性(氦质谱检漏率≤510⁻⁸Pam/s)、抗机械冲击(1500G/0.5ms)
5.长期稳定性评估:高温存储(168h@150℃)、温度循环(-65℃~+150℃/1000次)
1.通信系统用射频开关集成电路
2.电源管理类DC-DC转换芯片
3.传感器信号调理专用集成电路
4.工业控制用功率驱动模块
5.汽车电子系统保护器件
1.ASTMF1241-22:半导体器件热阻测量标准
2.ISO16750-4:2023:汽车电子环境试验规范
3.GB/T4937-2018:半导体器件机械和气候试验方法
4.IEC60749-25:2021:温度循环试验程序
5.JESD22-A108F:高温存储寿命测试标准
1.KeysightB1500A半导体参数分析仪:支持IV/CV曲线扫描(200V/1A)
2.TektronixMSO64示波器:8GHz带宽/25GSa采样率
3.ThermoStreamT-2600温度冲击系统:-80℃~+225℃转换时间<10s
4.ESPECPL-3KPH气候箱:温控精度0.5℃/湿度范围20%~98%RH
5.AgilentN9020B频谱分析仪:频率范围20Hz~26.5GHz
6.DAGE4000HS推拉力测试机:最大载荷500kg/分辨率0.01N
7.SonoscanD6000超声扫描显微镜:分辨率10μm@100MHz
8.FEIHeliosG4FIB-SEM双束系统:纳米级截面分析能力
9.Chroma3380功率循环测试系统:支持1000A脉冲电流测试
10.AdvantestT2000混合信号测试机:1024通道/800MHz数字速率
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与单极集成电路检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。