芯片及封装材料检测

检测项目热膨胀系数(CTE):测量材料在-65℃至300℃温度范围内的线性膨胀率(单位:ppm/℃),精度0.1ppm。介电常数与损耗因子:频率范围1kHz-10GHz下测试介电常数(εr)与损耗角正切(tanδ),误差≤2%。抗拉强度与断裂伸长率:采用万能材料试验机测试拉伸强度(MPa)和断裂伸长率(%),加载速率0.5-500mm/min。玻璃化转变温度(Tg):通过动态机械分析(DMA)测定温度范围-150℃至600℃,升温速率3℃/min。离子污染度:利用离子色谱法检测Cl-、Na+等污染)

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检测项目

热膨胀系数(CTE):测量材料在-65℃至300℃温度范围内的线性膨胀率(单位:ppm/℃),精度0.1ppm。

介电常数与损耗因子:频率范围1kHz-10GHz下测试介电常数(εr)与损耗角正切(tanδ),误差≤2%。

抗拉强度与断裂伸长率:采用万能材料试验机测试拉伸强度(MPa)和断裂伸长率(%),加载速率0.5-500mm/min。

玻璃化转变温度(Tg):通过动态机械分析(DMA)测定温度范围-150℃至600℃,升温速率3℃/min。

离子污染度:利用离子色谱法检测Cl-、Na+等污染物浓度(单位:μg/cm),检出限0.01μg/cm。

检测范围

硅晶圆:直径200-300mm硅片表面粗糙度(Ra≤0.2nm)与翘曲度(≤30μm)。

环氧模塑料(EMC):固化后热导率(≥1.5W/mK)与吸水率(≤0.3%)。

焊球合金:SnAgCu系无铅焊料熔点(217-227℃)与剪切强度(≥35MPa)。

陶瓷基板:Al2O3/AlN基板热导率(24-170W/mK)与击穿电压(≥15kV/mm)。

底部填充胶:固化后弹性模量(3-8GPa)与CTE匹配性(≤15ppm/℃)。

检测方法

ASTME831:热机械分析(TMA)测定CTE与Tg的标准方法。

ISO6721-11:动态介电分析(DEA)测量高频介电特性。

GB/T1040.2-2006:塑料拉伸性能试验方法。

JEDECJESD22-A110:温度循环试验(-55℃~125℃,1000次循环)。

IPC-TM-6502.3.28:离子污染度萃取与测试流程。

检测设备

TAInstrumentsTMA450:热机械分析仪,分辨率0.05μm,温度控制精度0.1℃。

AgilentE4991B阻抗分析仪:频率范围1MHz至3GHz,支持介电常数自动计算。

Instron5967万能试验机:最大载荷50kN,配备高温炉(最高1200℃)。

NetzschDMA242EArtemis:动态机械分析仪,频率范围0.01-100Hz。

TESCANMIRA3SEM:场发射扫描电镜,分辨率1nm@15kV。

PerkinElmerDSC8500:差示扫描量热仪,灵敏度0.2μW。

Metrohm930离子色谱仪:六通道自动进样系统,检出限0.1ppb。

KeysightB1505A功率器件分析仪:电压范围200V-3kV,电流精度0.5%。

BrukerD8ADVANCEXRD:X射线衍射仪,角度重复性0.0001。

ThermoScientificK-AlphaXPS:X射线光电子能谱仪,能量分辨率<0.5eV。

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

CMA / CNAS / ISO 资质齐全,荣誉证书点击可查看大图

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