瞬时浮点增益检测概述:检测项目1.增益精度:测量误差≤0.05dB(频率范围1MHz-40GHz)2.频率响应范围:覆盖10kHz-50GHz(步进精度0.1%)3.相位稳定性:相位偏移≤0.5(恒温25℃1℃)4.噪声系数:测试灵敏度-170dBm/Hz(动态范围≥120dB)5.谐波失真度:二次谐波抑制比≥60dBc(输入功率+20dBm)检测范围1.半导体材料:GaAs/GaN基射频芯片晶圆2.光学镀膜器件:DWDM滤波片(波长1529-1565nm)3.高分子薄膜介质:PTFE基高频电路基板(介电常数2.170.02)
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.增益精度:测量误差≤0.05dB(频率范围1MHz-40GHz)
2.频率响应范围:覆盖10kHz-50GHz(步进精度0.1%)
3.相位稳定性:相位偏移≤0.5(恒温25℃1℃)
4.噪声系数:测试灵敏度-170dBm/Hz(动态范围≥120dB)
5.谐波失真度:二次谐波抑制比≥60dBc(输入功率+20dBm)
1.半导体材料:GaAs/GaN基射频芯片晶圆
2.光学镀膜器件:DWDM滤波片(波长1529-1565nm)
3.高分子薄膜介质:PTFE基高频电路基板(介电常数2.170.02)
4.金属基复合材料:铝碳化硅封装外壳(热导率≥180W/mK)
5.压电陶瓷元件:PZT-5H型换能器(机电耦合系数≥0.70)
1.ASTMF1245-16:微波器件S参数矢量网络分析法
2.ISO14708-3:2023:植入式医疗设备电磁兼容性测试
3.GB/T11318.1-2021:电视和声音信号电缆分配系统部件测量
4.IEC61169-1-6:2020:射频连接器驻波比测试规程
5.GB/T17626.4-2018:电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
1.KeysightN9030B频谱分析仪(频率范围10Hz-50GHz)
2.Rohde&SchwarzZNB40矢量网络分析仪(动态校准精度0.02dB)
3.Agilent4287A射频测试仪(1MHz-3GHz阻抗测量)
4.AnritsuMT8862C无线通信测试系统(支持802.11ax/Wi-Fi6E协议)
5.TektronixMSO68B示波器(带宽8GHz,采样率25GS/s)
6.Fluke5790A精密测温仪(分辨率0.001℃,量程-200℃~660℃)
7.Chroma19032功率分析仪(基本精度0.05%ofreading)
8.NIPXIe-5632矢量信号收发器(实时带宽200MHz)
9.B&K3560-B-030声学分析系统(频率范围0.1Hz-20kHz)
10.ESPECSH-642恒温恒湿箱(温控精度0.3℃,湿度2%RH)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与瞬时浮点增益检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。