焦深检测概述:检测项目1.数值孔径匹配性检测:测量实际NA值与设计值偏差(0.02)2.照明波长适应性测试:覆盖193nm-1064nm波段验证焦深稳定性3.像差分析:Zernike系数测量(前15项系数误差≤λ/20)4.轴向分辨率验证:最小可分辨层间距≤0.5μm5.环境敏感性测试:温度波动2℃时焦深变化量≤3%检测范围1.显微物镜组:包含油浸式/干式物镜(NA≥0.7)2.光刻机投影镜头:适用于ArF(193nm)/KrF(248nm)光源系统3.激光加工聚焦系统:含F-theta透镜组及扫描振镜4.内窥镜成像模
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.数值孔径匹配性检测:测量实际NA值与设计值偏差(0.02)
2.照明波长适应性测试:覆盖193nm-1064nm波段验证焦深稳定性
3.像差分析:Zernike系数测量(前15项系数误差≤λ/20)
4.轴向分辨率验证:最小可分辨层间距≤0.5μm
5.环境敏感性测试:温度波动2℃时焦深变化量≤3%
1.显微物镜组:包含油浸式/干式物镜(NA≥0.7)
2.光刻机投影镜头:适用于ArF(193nm)/KrF(248nm)光源系统
3.激光加工聚焦系统:含F-theta透镜组及扫描振镜
4.内窥镜成像模组:直径≤3mm的梯度折射率透镜
5.红外热成像镜头:8-14μm波段硫系玻璃镜片
1.ISO10110-5:2015光学元件表面缺陷评价法
2.ASTME387-04(2016)光学系统分辨率测定标准
3.GB/T7661-2009光学零件表面疵病检测方法
4.ISO9334:2019光学传递函数测量规范
5.GB/T10988-2009光学系统杂散光测试方法
1.ZygoVerifireHDX激光干涉仪:波长632.8nm,PV值测量精度λ/100
2.TriopticsOptiCentric双光路中心仪:轴向定位精度0.5μm
3.NikonNEXIVVMZ-S4540测量显微镜:最大放大倍率3500X
4.OphirSpiriconM2-200光束质量分析仪:CCD分辨率19201200
5.MitutoyoMF-U1000超景深显微镜:Z轴行程100mm
6.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:垂直分辨率0.1nm
7.ThorlabsWFS-300波前传感器:Shack-Hartmann阵列3232
8.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:XY重复精度0.02μm
9.AgilentCary7000全能型分光光度计:光谱范围175-3300nm
10.OlympusLEXTOLS50003D测量显微镜:最小步长10nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与焦深检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。