取数据类型尺寸检测概述:检测项目1.线性尺寸测量:长度(0.1-2000mm0.5μm)、宽度(0.05-500mm1.2μm)、高度(0.1-1500mm0.8μm)2.直径公差验证:内径(Φ0.5-Φ800mm0.3μm)、外径(Φ1-Φ1000mm0.6μm)、圆度(≤Φ500mm0.4μm)3.形位公差检测:平面度(≤10001000mm1.5μm)、垂直度(≤500mm2μm)、同轴度(Φ0.01-Φ300mm1μm)4.表面轮廓分析:Ra值(0.01-25μm5%)、Rz值(0.05-100μm3%)、波纹度(0.1
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.线性尺寸测量:长度(0.1-2000mm0.5μm)、宽度(0.05-500mm1.2μm)、高度(0.1-1500mm0.8μm)
2.直径公差验证:内径(Φ0.5-Φ800mm0.3μm)、外径(Φ1-Φ1000mm0.6μm)、圆度(≤Φ500mm0.4μm)
3.形位公差检测:平面度(≤10001000mm1.5μm)、垂直度(≤500mm2μm)、同轴度(Φ0.01-Φ300mm1μm)
4.表面轮廓分析:Ra值(0.01-25μm5%)、Rz值(0.05-100μm3%)、波纹度(0.1-10mm2μm)
5.三维空间测量:空间对角线(≤3000mm3μm)、角度偏差(0-3600.005)、曲面轮廓度(≤Φ600mm2μm)
1.金属精密件:航空发动机叶片(钛合金/镍基合金)、液压阀体(不锈钢/铝合金)、轴承套圈(GCr15钢)
2.高分子制品:医用导管(PE/PU)、密封圈(NBR/FKM)、光学透镜(PMMA/PC)
3.陶瓷基材:半导体封装基板(Al₂O₃/AlN)、切削刀具(Si₃N₄/SiC)、热障涂层(YSZ)
4.复合材料构件:碳纤维增强板(CFRP)、陶瓷基复合材料(CMC)、夹层结构件(Nomex蜂窝芯)
5.微型电子元件:芯片封装体(BGA/QFN)、连接器端子(磷青铜)、MEMS传感器(硅基微结构)
ASTME2938-18三坐标测量系统性能验证规程
ISO1101:2017产品几何技术规范(GPS)几何公差标注
GB/T1958-2017产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定
ISO10360-7:2021坐标测量机验收与复检规范
GB/T1804-2000一般公差未注公差的线性和角度尺寸公差
ASMEB89.4.10360.2-2008坐标测量系统性能评价方法
1.MitutoyoCRYSTA-ApexSCMM:三坐标测量机,配备RenishawSP25M扫描探头,空间精度(1.9+3L/1000)μm
2.KeyenceLM-9000系列激光位移计:非接触式测量,分辨率0.01μm,采样频率392kHz
3.ZeissO-INSPECT543复合式测量机:整合光学影像与接触式探测系统,XYZ轴精度1.5μm
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:120nm横向分辨率,10nm垂直分辨率
5.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂:便携式关节臂CMM,单点重复性9μm
6.NikonNEXIVVMZ-S656T光学测量仪:双远心镜头系统,放大倍率30X-200X可调
7.TaylorHobsonFormTalysurfPGINOVUS轮廓仪:曲率半径测量范围80,Z轴分辨率0.8nm
8.GOMATOSQ三维扫描仪:蓝光条纹投影技术,单幅测量精度8μm+8μm/m
9.StarrettXD-1000数字测高仪:量程1000mm,分辨率0.001mm,温度补偿精度1℃/m
10.MahrFederalMarFormMMQ400圆度仪:主轴径向误差≤0.025μm,最大工件重量150kg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与取数据类型尺寸检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。