检测项目
1.纯度测定：采用气相色谱法（GC）分析主成分含量≥99.5%，保留时间偏差≤0.1min
2.羰基含量：红外光谱法（IR）测定CO特征峰（2000-2100cm⁻），相对强度误差2%
3.金属杂质：电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）检测Fe、Ni、Cr等≤10ppm
4.挥发性残留：热重分析（TGA）评估30-150℃区间失重率≤0.5%
5.晶体结构验证：X射线衍射（XRD）匹配JCPDS04-005-3283标准图谱
检测范围
1.金属催化剂前驱体：用于CVD/MOCVD工艺的纳米钼沉积材料
2.有机合成中间体：含钼配位化合物的合成原料
3.电子材料：半导体薄膜制备用高纯六羰基钼
4.科研试剂：实验室级Mo(CO)₆纯度验证
5.废弃化学品：含六羰基钼工业废料的合规性鉴定
检测方法
国际标准：
ASTME3061-17《金属羰基化合物中金属含量的测定》
ISO17034:2016《标准物质/标准样品生产者能力要求》
国家标准：
GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》
GB/T32464-2015《化学试剂气相色谱法通则》
检测设备
1.Agilent7890B气相色谱仪：配备FID检测器，分辨率0.1ng
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：检出限0.01ppt级金属杂质
3.PerkinElmerSpectrumTwoFT-IR：波长范围4000-400cm⁻