


概述:检测项目1.纯度测定:采用气相色谱法(GC)分析主成分含量≥99.5%,保留时间偏差≤0.1min2.羰基含量:红外光谱法(IR)测定CO特征峰(2000-2100cm⁻),相对强度误差2%3.金属杂质:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)检测Fe、Ni、Cr等≤10ppm4.挥发性残留:热重分析(TGA)评估30-150℃区间失重率≤0.5%5.晶体结构验证:X射线衍射(XRD)匹配JCPDS04-005-3283标准图谱检测范围1.金属催化剂前驱体:用于CVD/MOCVD工艺的纳米钼沉积材料2.有机合
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.纯度测定:采用气相色谱法(GC)分析主成分含量≥99.5%,保留时间偏差≤0.1min
2.羰基含量:红外光谱法(IR)测定CO特征峰(2000-2100cm⁻),相对强度误差2%
3.金属杂质:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)检测Fe、Ni、Cr等≤10ppm
4.挥发性残留:热重分析(TGA)评估30-150℃区间失重率≤0.5%
5.晶体结构验证:X射线衍射(XRD)匹配JCPDS04-005-3283标准图谱
1.金属催化剂前驱体:用于CVD/MOCVD工艺的纳米钼沉积材料
2.有机合成中间体:含钼配位化合物的合成原料
3.电子材料:半导体薄膜制备用高纯六羰基钼
4.科研试剂:实验室级Mo(CO)₆纯度验证
5.废弃化学品:含六羰基钼工业废料的合规性鉴定
国际标准:
ASTME3061-17《金属羰基化合物中金属含量的测定》
ISO17034:2016《标准物质/标准样品生产者能力要求》
国家标准:
GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》
GB/T32464-2015《化学试剂气相色谱法通则》
1.Agilent7890B气相色谱仪:配备FID检测器,分辨率0.1ng
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:检出限0.01ppt级金属杂质
3.PerkinElmerSpectrumTwoFT-IR:波长范围4000-400cm⁻
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"六羰基钼检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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