检测项目

1.电气性能：工作电压（3.3V5%）、读写电流（≤150mA）、静态功耗（≤5μA）

2.数据传输速率：连续读取速度（≥90MB/s）、随机写入速度（≥45MB/s）

3.存储稳定性：数据保持时间（≥10年@25℃）、误码率（≤1E-12）

4.环境适应性：工作温度（-40℃~85℃）、湿度耐受（95%RH@40℃）

5.机械耐久性：插拔寿命（≥10,000次）、抗振动（20Hz~2000Hz/15g）

检测范围

1.工业级SLCNAND型固态软盘卡

2.消费级MLC/TLCNAND型固态软盘卡

3.宽温型特种封装存储卡

4.加密型安全存储卡

5.高密度3DNAND架构存储卡

检测方法

1.电气特性测试：依据GB/T26248-2010《移动存储介质通用规范》第5.3节

2.环境试验：参照ISO/IEC60068-2系列标准执行温度循环与湿热测试

3.耐久性验证：采用ASTMF1578-18机械应力测试规程

4.数据完整性检验：执行GB/T33767-2017信息技术-数据存储介质可靠性要求

5.EMC测试：满足GB/T17626.2-2018静电放电抗扰度四级标准

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：测量漏电流与阈值电压特性

2.TektronixDPO7254示波器：分析信号完整性与时序参数

3.ThermotronSM-32C温湿度试验箱：实现-70℃~180℃温度冲击测试

4.ESPECEHS-211M振动试验系统：执行三轴随机振动测试

5.AdvantestT5591存储介质测试机：验证P/E循环次数与坏块管理性能

6.Chroma19032电源加载仪：模拟异常电压波动场景

7.AgilentN9020A频谱分析仪：检测电磁辐射合规性

8.XJTAG边界扫描测试系统：验证接口电路逻辑功能

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与固态软盘卡检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。