检测项目

1.表面电荷密度测定：测量范围0.1-1000μC/m，分辨率0.05μC/m

2.介电常数测试：频率范围1kHz-1MHz，精度0.5%

3.击穿电压强度：测试电压0-50kV/mm，步进精度0.1kV

4.电场强度分布：空间分辨率10μm，动态范围1-100kV/m

5.电荷衰减特性：时间常数测定范围1ms-1000s，温控精度0.5℃

检测范围

1.高分子绝缘材料（聚四氟乙烯、聚酰亚胺薄膜）

2.半导体晶圆及封装基板

3.纳米涂层功能材料（石墨烯薄膜、金属氧化物涂层）

4.电子元器件（电容器、高压连接器）

5.航空航天复合材料（碳纤维增强环氧树脂）

检测方法

ASTMD4470-2018《高电阻率固体电绝缘材料体积电阻率测试》

ISO28841-2019《静电学-表面电位测量方法》

GB/T16801-2013《绝缘材料耐电痕化和蚀损的测定》

IEC62631-3-1:2016《介电和电阻特性测试规范》

GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》

检测设备

TrekModel347静电电位计：非接触式表面电位测量，量程20kV

KeysightB1505A功率器件分析仪：击穿电压测试精度0.05%

Keithley6517B静电计：最小电流测量10aA，支持电荷衰减分析

MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪：晶体结构对介电特性影响分析

Agilent4294A阻抗分析仪：介电常数测试频率40Hz-110MHz

HIOKIIM3570阻抗分析仪：四端对测量模式支持纳米材料测试

FLIRSC7000红外热像仪：电场热效应分布成像精度1℃

BrukerDimensionIcon原子力显微镜：纳米级表面电荷密度测绘

ESPECPCT-322气候箱：温度(-70℃~180℃)/湿度(10%~98%RH)控制测试环境