库伦斥力检测概述:检测项目1.表面电荷密度测定:测量范围0.1-1000μC/m,分辨率0.05μC/m2.介电常数测试:频率范围1kHz-1MHz,精度0.5%3.击穿电压强度:测试电压0-50kV/mm,步进精度0.1kV4.电场强度分布:空间分辨率10μm,动态范围1-100kV/m5.电荷衰减特性:时间常数测定范围1ms-1000s,温控精度0.5℃检测范围1.高分子绝缘材料(聚四氟乙烯、聚酰亚胺薄膜)2.半导体晶圆及封装基板3.纳米涂层功能材料(石墨烯薄膜、金属氧化物涂层)4.电子元器件(电容器、高压连接器)5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.表面电荷密度测定:测量范围0.1-1000μC/m,分辨率0.05μC/m
2.介电常数测试:频率范围1kHz-1MHz,精度0.5%
3.击穿电压强度:测试电压0-50kV/mm,步进精度0.1kV
4.电场强度分布:空间分辨率10μm,动态范围1-100kV/m
5.电荷衰减特性:时间常数测定范围1ms-1000s,温控精度0.5℃
1.高分子绝缘材料(聚四氟乙烯、聚酰亚胺薄膜)
2.半导体晶圆及封装基板
3.纳米涂层功能材料(石墨烯薄膜、金属氧化物涂层)
4.电子元器件(电容器、高压连接器)
5.航空航天复合材料(碳纤维增强环氧树脂)
ASTMD4470-2018《高电阻率固体电绝缘材料体积电阻率测试》
ISO28841-2019《静电学-表面电位测量方法》
GB/T16801-2013《绝缘材料耐电痕化和蚀损的测定》
IEC62631-3-1:2016《介电和电阻特性测试规范》
GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》
TrekModel347静电电位计:非接触式表面电位测量,量程20kV
KeysightB1505A功率器件分析仪:击穿电压测试精度0.05%
Keithley6517B静电计:最小电流测量10aA,支持电荷衰减分析
MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:晶体结构对介电特性影响分析
Agilent4294A阻抗分析仪:介电常数测试频率40Hz-110MHz
HIOKIIM3570阻抗分析仪:四端对测量模式支持纳米材料测试
FLIRSC7000红外热像仪:电场热效应分布成像精度1℃
BrukerDimensionIcon原子力显微镜:纳米级表面电荷密度测绘
ESPECPCT-322气候箱:温度(-70℃~180℃)/湿度(10%~98%RH)控制测试环境
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与库伦斥力检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。