检测项目

1.双折射率测量：Δn=0.0001~0.01范围

2.光轴角偏差：测量精度0.01

3.相位延迟量：λ/100~20λ范围

4.晶体主轴方位角：分辨率0.005

5.应力双折射分布：空间分辨率≤1μm

检测范围

1.光学晶体：铌酸锂(LiNbO3)、钽酸锂(LiTaO3)等单晶材料

2.液晶材料：向列相/近晶相液晶盒器件

3.光学薄膜：偏振片、相位延迟膜

4.激光晶体：YAG、蓝宝石(Al2O3)基片

5.微纳光学元件：波导器件、超表面结构

检测方法

1.ASTME837-20应力双折射测试标准

2.ISO10110-19:2015光学元件双折射规范

3.GB/T11297.1-2021激光晶体光学均匀性测试

4.ISO13653:2019光学系统偏振特性测量

5.GB/T31370.2-2020液晶显示器件光电参数测试

检测设备

1.OlympusBX53M-P偏光显微镜：配备SENARMONT补偿器，分辨率0.005λ

2.HindsInstrumentsPEM-100光电弹性调制系统：相位精度0.001λ

3.ThorlabsPAX1000VIS/M偏振分析仪：波长范围400-700nm

4.ShimadzuAIM-9000红外椭偏仪：光谱范围2-25μm

5.ZygoVerifireMST激光干涉仪：波前精度λ/1000@632.8nm

6.CRiAbrio偏振成像系统：空间分辨率20482048像素

7.AxometricsAxoScan穆勒矩阵椭偏仪：全穆勒矩阵测量速度10ms/点

8.PrismMasterUV双折射测量系统：紫外波段200-400nm测试能力

9.ZeissAxioImager2定量偏光系统：配备LC-PolScope模块

10.Metripol快速偏振成像仪：全场双折射分布测量速度30fps

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光轴角检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。