前像检测概述:检测项目1.表面粗糙度:Ra值测量范围0.1-10μm,Rz值精度5%2.微观形貌分析:分辨率≤50nm,支持三维拓扑重构3.元素成分测定:EDS能谱分析精度0.3wt%,检测限≥0.1%4.晶粒度评级:依据ASTME112标准,测量误差≤0.5级5.残余应力测试:XRD法测量范围1500MPa,重复性20MPa检测范围1.金属材料:铝合金/钛合金/高温合金锻件及铸件2.高分子材料:工程塑料注塑件/复合材料层压板3.电子元件:PCB基板/半导体封装结构/焊点界面4.光学涂层:AR膜层/硬质镀膜/DLC涂层
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.表面粗糙度:Ra值测量范围0.1-10μm,Rz值精度5%
2.微观形貌分析:分辨率≤50nm,支持三维拓扑重构
3.元素成分测定:EDS能谱分析精度0.3wt%,检测限≥0.1%
4.晶粒度评级:依据ASTME112标准,测量误差≤0.5级
5.残余应力测试:XRD法测量范围1500MPa,重复性20MPa
1.金属材料:铝合金/钛合金/高温合金锻件及铸件
2.高分子材料:工程塑料注塑件/复合材料层压板
3.电子元件:PCB基板/半导体封装结构/焊点界面
4.光学涂层:AR膜层/硬质镀膜/DLC涂层体系
5.陶瓷材料:氧化锆结构件/碳化硅密封环
1.ASTME112-13金属平均晶粒度测定方法
2.ISO25178-2:2022表面纹理三维表征标准
3.GB/T4340.1-2009金属维氏硬度试验方法
4.ISO14705:2016精细陶瓷界面结合强度测试
5.GB/T10561-2005钢中非金属夹杂物显微评定法
1.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:三维形貌重建精度10nm
2.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪:最大行程50mm,探针半径2μm
3.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪:Cu靶Kα射线源(λ=0.154nm)
4.ZeissSigma500场发射电镜:分辨率0.8nm@15kV
5.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:载荷范围10gf-2kgf
6.ThermoFisherScios2双束电镜:FIB加工精度5nm
7.KeyenceVHX-7000数码显微镜:20-5000倍连续变倍系统
8.Instron5967万能试验机:最大载荷30kN,位移精度1μm
9.OxfordInstrumentsX-MaxN80EDS探测器:探测面积80mm
10.PanalyticalAxiosMAXXRF光谱仪:元素范围Be-U
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与前像检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。