最高感光度检测概述:检测项目暗电流噪声:测量传感器在无光照条件下的本底噪声(单位:e-/pixel/s),测试温度范围-20℃至60℃量子效率:测定400-1100nm波长范围内光电转换效率(单位:%),精度0.5%满阱容量:评估像素单元最大电荷存储量(单位:ke-),测试电压5-15V线性响应度:验证输入光强与输出信号线性关系(R≥0.999),照度范围1-10000lux动态范围:计算最大/最小可探测信号比(单位:dB),测试环境温度251℃检测范围CCD/CMOS图像传感器(像素尺寸1.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
暗电流噪声:测量传感器在无光照条件下的本底噪声(单位:e-/pixel/s),测试温度范围-20℃至60℃
量子效率:测定400-1100nm波长范围内光电转换效率(单位:%),精度0.5%
满阱容量:评估像素单元最大电荷存储量(单位:ke-),测试电压5-15V
线性响应度:验证输入光强与输出信号线性关系(R≥0.999),照度范围1-10000lux
动态范围:计算最大/最小可探测信号比(单位:dB),测试环境温度251℃
CCD/CMOS图像传感器(像素尺寸1.1μm-24μm)
红外焦平面探测器(波长3-14μm)
医用X射线平板探测器(分辨率≥5lp/mm)
高速摄影胶片(ISO100-25600)
天文观测用EMCCD(制冷温度-80℃)
ISO12232:2019数码相机光电转换函数测量标准
ASTME2593-22成像探测器绝对辐射响应校准规程
GB/T29298-2012数码照相机光电转换函数测量方法
EMVA1288R3.1工业相机光电性能表征标准
IEC61966-4电子投影设备光电参数测试规范
Keithley4200-SCS半导体分析仪:暗电流/噪声谱密度测量(精度0.1fA)
OL770-LED多波长光源系统:10nm步进可调光谱输出(波长范围365-1700nm)
LabsphereURS-2000均匀光源:1%辐照均匀性(直径200mm积分球)
ThermoScientificLN2制冷系统:温控范围-196℃至+150℃(稳定性0.1℃)
SRSSR570低噪声放大器:1nV/√Hz输入噪声(增益范围1-10000)
BenthamTMc300单色仪:波长精度0.05nm(光栅刻线2400g/mm)
HamamatsuC11347-11量子效率测试台:绝对QE测量误差<0.8%
X-Ritei1Pro3分光辐射度计:380-730nm光谱响应(波长分辨率3nm)
NIPXIe-5162高速采集卡:14bit分辨率(采样率5GS/s)
VaisalaMMT330温湿度记录仪:温度精度0.15℃(湿度1%RH)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与最高感光度检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。