检测项目

暗电流噪声：测量传感器在无光照条件下的本底噪声（单位：e-/pixel/s），测试温度范围-20℃至60℃

量子效率：测定400-1100nm波长范围内光电转换效率（单位：%），精度0.5%

满阱容量：评估像素单元最大电荷存储量（单位：ke-），测试电压5-15V

线性响应度：验证输入光强与输出信号线性关系（R≥0.999），照度范围1-10000lux

动态范围：计算最大/最小可探测信号比（单位：dB），测试环境温度251℃

检测范围

CCD/CMOS图像传感器（像素尺寸1.1μm-24μm）

红外焦平面探测器（波长3-14μm）

医用X射线平板探测器（分辨率≥5lp/mm）

高速摄影胶片（ISO100-25600）

天文观测用EMCCD（制冷温度-80℃）

检测方法

ISO12232:2019数码相机光电转换函数测量标准

ASTME2593-22成像探测器绝对辐射响应校准规程

GB/T29298-2012数码照相机光电转换函数测量方法

EMVA1288R3.1工业相机光电性能表征标准

IEC61966-4电子投影设备光电参数测试规范

检测设备

Keithley4200-SCS半导体分析仪：暗电流/噪声谱密度测量（精度0.1fA）

OL770-LED多波长光源系统：10nm步进可调光谱输出（波长范围365-1700nm）

LabsphereURS-2000均匀光源：1%辐照均匀性（直径200mm积分球）

ThermoScientificLN2制冷系统：温控范围-196℃至+150℃（稳定性0.1℃）

SRSSR570低噪声放大器：1nV/√Hz输入噪声（增益范围1-10000）

BenthamTMc300单色仪：波长精度0.05nm（光栅刻线2400g/mm）

HamamatsuC11347-11量子效率测试台：绝对QE测量误差＜0.8%

X-Ritei1Pro3分光辐射度计：380-730nm光谱响应（波长分辨率3nm）

NIPXIe-5162高速采集卡：14bit分辨率（采样率5GS/s）

VaisalaMMT330温湿度记录仪：温度精度0.15℃（湿度1%RH）