无序属性检测概述:检测项目1.密度偏差率:测量材料体积密度与标称值的偏离程度(0.5%以内)2.晶格畸变率:采用XRD分析晶体结构参数(半峰宽FWHM≥0.15)3.元素偏析度:通过EDS测定主元素分布标准差(≤3.5wt%)4.表面粗糙度离散系数:轮廓仪测量Ra值波动范围(CV≤12%)5.残余应力分布梯度:X射线应力仪测试应力变化率(≤150MPa/mm)6.孔隙率不均匀指数:金相法统计孔隙分布离散度(DI≤0.35)检测范围1.金属合金:包括铝合金铸件、钛合金锻件等冶金制品2.高分子复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.密度偏差率:测量材料体积密度与标称值的偏离程度(0.5%以内)
2.晶格畸变率:采用XRD分析晶体结构参数(半峰宽FWHM≥0.15)
3.元素偏析度:通过EDS测定主元素分布标准差(≤3.5wt%)
4.表面粗糙度离散系数:轮廓仪测量Ra值波动范围(CV≤12%)
5.残余应力分布梯度:X射线应力仪测试应力变化率(≤150MPa/mm)
6.孔隙率不均匀指数:金相法统计孔隙分布离散度(DI≤0.35)
1.金属合金:包括铝合金铸件、钛合金锻件等冶金制品
2.高分子复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP)、玻璃钢(GFRP)
3.陶瓷材料:氧化铝基陶瓷、氮化硅结构陶瓷
4.半导体晶圆:硅片掺杂均匀性、外延层厚度一致性
5.纳米涂层材料:PVD/CVD镀层成分梯度分布
6.粉末冶金制品:烧结体密度均匀性
ASTME112-13金属平均晶粒度测定方法
ISO4287:1997表面粗糙度轮廓法测量标准
GB/T13298-2015金属显微组织检验方法
ASTME2867-14X射线荧光光谱元素分布分析
GB/T3850-2015致密烧结金属材料密度测定
ISO2178:2016磁性基体非磁性覆盖层厚度测量
1.BrukerD8AdvanceX射线衍射仪:晶体结构参数分析(精度0.0001nm)
2.HitachiSU5000场发射扫描电镜:微观结构形貌观察(分辨率1nm)
3.OlympusXRF-1800X射线荧光光谱仪:元素分布定量分析(检出限10ppm)
4.MitutoyoSJ-410轮廓仪:表面粗糙度测量(纵向分辨率0.01μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与无序属性检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。