检测项目

1.纯度测定:Ag含量≥99.9%,杂质元素总量≤0.1%(Cu、Fe、Pb等)

2.晶体结构分析:晶格常数偏差≤0.5%,晶型完整度≥98%

3.粒度分布测试:D50值1-10μm,D90/D10≤3.0

4.热稳定性评估:热失重≤0.5%(200℃恒温2h)

5.表面形貌表征:表面粗糙度Ra≤0.2μm,孔隙率<0.3%

检测范围

1.高纯蹄化银粉末材料(纯度≥99.95%)

2.真空镀膜用蹄化银靶材(密度≥9.8g/cm)

3.电子元件封装材料(热导率≥200W/mK)

4.光学器件反射层镀膜(反射率≥95%@550nm)

5.催化剂载体材料(比表面积5-50m/g)

检测方法

1.ISO20203:2018X射线衍射法定量分析晶体结构

2.ASTME3060-20扫描电镜法测定表面形貌特征

3.GB/T23942-2009ICP-MS法测定痕量杂质元素

4.ISO13320:2020激光衍射法测定粒度分布

5.GB/T19421-2008热重分析法评估热稳定性

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:晶型分析精度0.0001nm

2.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:分辨率1nm@15kV

3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm

4.NetzschSTA449F5同步热分析仪:温度范围RT-1600℃

5.ThermoFisheriCAP7400ICP-OES:检出限≤1ppb

6.BrukerD8ADVANCEXRD系统:配备LYNXEYEXE探测器

7.ShimadzuAIM-9000红外显微镜:空间分辨率1μm

8.Agilent7900ICP-MS:质量数范围2-260amu

9.KeyenceVHX-7000数码显微镜:5000倍光学放大

10.MettlerToledoXSE105电子天平:精度0.01mg