检测项目
1.表面电阻率：测量范围10^3-10^12Ωcm，精度5%
2.体积电阻率：测试条件DC100V-1000V，温度范围-40℃至150℃
3.介电常数：频率覆盖1kHz-1MHz，误差≤2%
4.击穿电压：最高测试电压50kV，升压速率0.1-5kV/s
5.温度系数：温控精度0.5℃，温度梯度≤2℃/min
检测范围
1.高分子复合材料：包括环氧树脂、聚酰亚胺薄膜等电子封装材料
2.金属涂层：镀锌层、导电银浆涂覆层等表面处理产品
3.半导体材料：硅晶圆、碳化硅基板等电子级晶片
4.绝缘陶瓷：氧化铝陶瓷、氮化硅陶瓷基板
5.导电薄膜：ITO玻璃、柔性透明导电膜（PET基材）
检测方法
1.ASTMD257-14：标准电极法测定表面/体积电阻率
2.ISO1853:2018：四探针法测量导电橡胶电阻值
3.GB/T1410-2006：高阻计法测定固体绝缘材料体积电阻
4.IEC60243-1:2013：工频耐压试验测定击穿强度
5.GB/T1408.1-2016：绝缘材料电气强度试验方法
检测设备
1.KeysightB2987A静电计：分辨率0.01fA，最大电阻测量10PΩ
2.HIOKIIM3570阻抗分析仪：频率范围4Hz-5MHz，支持四端对测量
3.TrekModel152-1高压电源：输出电压10kVDC/AC
4.AgilentE4980ALLCR表：基本精度0.05%，电容测量至200mF
5.Chroma19032耐压测试仪：输出功率500VA，漏电流量程0-20mA
6.MitsubishiChemicalMCP-HT450高阻计：支持10^4-10^16Ω量程
7.Keithley6517B静电计/高阻表：内置1000V电压源及皮安表模块
8.FLUKE1507绝缘测试仪：测试电压50V/100V/250V/500V/1000V五档可调