外赋传导率检测概述:检测项目1.表面电阻率:测量范围10^3-10^12Ωcm,精度5%2.体积电阻率:测试条件DC100V-1000V,温度范围-40℃至150℃3.介电常数:频率覆盖1kHz-1MHz,误差≤2%4.击穿电压:最高测试电压50kV,升压速率0.1-5kV/s5.温度系数:温控精度0.5℃,温度梯度≤2℃/min检测范围1.高分子复合材料:包括环氧树脂、聚酰亚胺薄膜等电子封装材料2.金属涂层:镀锌层、导电银浆涂覆层等表面处理产品3.半导体材料:硅晶圆、碳化硅基板等电子级晶片4.绝缘陶瓷:氧化铝陶瓷、氮化硅陶
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1.表面电阻率:测量范围10^3-10^12Ωcm,精度5%
2.体积电阻率:测试条件DC100V-1000V,温度范围-40℃至150℃
3.介电常数:频率覆盖1kHz-1MHz,误差≤2%
4.击穿电压:最高测试电压50kV,升压速率0.1-5kV/s
5.温度系数:温控精度0.5℃,温度梯度≤2℃/min
1.高分子复合材料:包括环氧树脂、聚酰亚胺薄膜等电子封装材料
2.金属涂层:镀锌层、导电银浆涂覆层等表面处理产品
3.半导体材料:硅晶圆、碳化硅基板等电子级晶片
4.绝缘陶瓷:氧化铝陶瓷、氮化硅陶瓷基板
5.导电薄膜:ITO玻璃、柔性透明导电膜(PET基材)
1.ASTMD257-14:标准电极法测定表面/体积电阻率
2.ISO1853:2018:四探针法测量导电橡胶电阻值
3.GB/T1410-2006:高阻计法测定固体绝缘材料体积电阻
4.IEC60243-1:2013:工频耐压试验测定击穿强度
5.GB/T1408.1-2016:绝缘材料电气强度试验方法
1.KeysightB2987A静电计:分辨率0.01fA,最大电阻测量10PΩ
2.HIOKIIM3570阻抗分析仪:频率范围4Hz-5MHz,支持四端对测量
3.TrekModel152-1高压电源:输出电压10kVDC/AC
4.AgilentE4980ALLCR表:基本精度0.05%,电容测量至200mF
5.Chroma19032耐压测试仪:输出功率500VA,漏电流量程0-20mA
6.MitsubishiChemicalMCP-HT450高阻计:支持10^4-10^16Ω量程
7.Keithley6517B静电计/高阻表:内置1000V电压源及皮安表模块
8.FLUKE1507绝缘测试仪:测试电压50V/100V/250V/500V/1000V五档可调
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与外赋传导率检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。