晶杆检测概述:检测项目1.直径偏差:允许公差0.005mm(Φ1-5mm规格)2.直线度误差:最大偏移量≤0.01mm/100mm3.表面粗糙度:Ra≤0.2μm(接触式测量)4.晶格缺陷密度:XRD检测≤10/cm5.轴向抗弯强度:≥1500MPa(三点弯曲法)检测范围1.石英晶体振荡器用晶杆(频率控制元件)2.光纤连接器陶瓷插芯(Φ2.5mm精密结构)3.MEMS传感器硅基支撑杆(微机电系统)4.激光器谐振腔钇铝石榴石晶体棒(YAG晶体)5.光学棱镜系统蓝宝石导光杆(紫外-红外波段)检测方法ASTME112-13晶
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.直径偏差:允许公差0.005mm(Φ1-5mm规格)
2.直线度误差:最大偏移量≤0.01mm/100mm
3.表面粗糙度:Ra≤0.2μm(接触式测量)
4.晶格缺陷密度:XRD检测≤10/cm
5.轴向抗弯强度:≥1500MPa(三点弯曲法)
1.石英晶体振荡器用晶杆(频率控制元件)
2.光纤连接器陶瓷插芯(Φ2.5mm精密结构)
3.MEMS传感器硅基支撑杆(微机电系统)
4.激光器谐振腔钇铝石榴石晶体棒(YAG晶体)
5.光学棱镜系统蓝宝石导光杆(紫外-红外波段)
ASTME112-13晶粒度测定方法
ISO1101:2017几何公差规范
GB/T1800.2-2020产品几何技术规范
ISO4287:1997表面粗糙度参数定义
GB/T4340.1-2009金属维氏硬度试验
MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐标测量机(三维形位公差分析)
TaylorHobsonFormTalysurfi120轮廓仪(纳米级粗糙度测量)
BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(晶体结构缺陷检测)
Instron5967万能材料试验机(力学性能测试)
OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜(三维表面形貌重建)
RenishawXL-80激光干涉仪(直线度动态补偿测量)
KeyenceVHX-7000数字显微镜(非接触式尺寸测量)
MalvernPanalyticalEmpyreanX射线荧光光谱仪(元素成分分析)
ZygoNewView9000白光干涉仪(亚埃级表面形貌表征)
Agilent5500原子力显微镜(纳米级缺陷定位分析)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与晶杆检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。