标准制片检测

检测项目厚度偏差:采用非接触式激光测厚仪测量0.02mm精度范围密度测试:通过浮力法测定材料密度值(单位g/cm)拉伸强度:记录试样断裂时最大载荷(N/mm)及延伸率(%)表面粗糙度:使用白光干涉仪分析Ra≤0.1μm级微观形貌热稳定性:评估材料在200℃恒温30min后的形变率(≤5%)检测范围高分子薄膜:包括PET、PE等电子元件封装材料金属箔材:铜箔/铝箔类导电基材(厚度0.01-0.2mm)复合材料:碳纤维增强环氧树脂结构件光学镀膜片:防反射/增透镀层基板(透光率≥92%)医用胶片:X光片/CT片

原创阅读 122025-05-21工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

厚度偏差:采用非接触式激光测厚仪测量0.02mm精度范围

密度测试:通过浮力法测定材料密度值(单位g/cm)

拉伸强度:记录试样断裂时最大载荷(N/mm)及延伸率(%)

表面粗糙度:使用白光干涉仪分析Ra≤0.1μm级微观形貌

热稳定性:评估材料在200℃恒温30min后的形变率(≤5%)

检测范围

高分子薄膜:包括PET、PE等电子元件封装材料

金属箔材:铜箔/铝箔类导电基材(厚度0.01-0.2mm)

复合材料:碳纤维增强环氧树脂结构件

光学镀膜片:防反射/增透镀层基板(透光率≥92%)

医用胶片:X光片/CT片等感光乳剂载体

检测方法

ASTMD882:塑料薄膜拉伸性能测试规范

ISO527-3:非金属材料厚度测量国际标准

GB/T1040.3:塑料拉伸性能测定国家标准

ISO4287:表面粗糙度轮廓法测量通则

GB/T2918:塑料试样状态调节标准环境(23℃/50%RH)

检测设备

MitutoyoLitematicVL-50:非接触式激光测厚仪(分辨率0.1μm)

Instron5967:双立柱万能试验机(载荷30kN)

BrukerContourGT-X3:三维白光干涉表面轮廓仪

MettlerToledoXS204:精密电子天平(精度0.1mg)

TAInstrumentsQ800:动态热机械分析仪(温度范围-150~600℃)

Elcometer456:涂层测厚仪(磁感应/涡流双模式)

LabthinkMST-01:摩擦系数测试仪(速度100mm/min)

ShimadzuUV-2600i:紫外可见分光光度计(波长190-1400nm)

ThermoScientificHeratherm:精密烘箱(控温精度0.5℃)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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