检测项目

1.功耗测试：包括动态功耗（TDP5W-150W）、静态漏电流（≤10μA）及峰值电流（≥50A）

2.频率稳定性：基准时钟偏差（50ppm）、核心频率波动（2%）

3.热特性分析：结温范围（-40℃~125℃）、散热器热阻（≤0.5℃/W）

4.信号完整性：PCIe5.0眼图裕量（≥20%）、DDR5时序抖动（≤5ps）

5.协议兼容性：USB440Gbps误码率（BER＜1E-12）、HDMI2.1FRL模式验证

检测范围

1.移动设备协处理器：智能手机/平板电脑NPU模块

2.嵌入式系统处理器：工业PLC控制单元FPGA加速器

3.数据中心加速卡：GPU/TPU计算单元

4.车载计算平台：ADAS域控制器AI芯片

5.物联网边缘节点：低功耗RISC-V协处理器

检测方法

ASTMF2593-2016：半导体器件热特性测试规范

ISO/IEC14776-323:2021：高速串行总线协议一致性测试

GB/T17574-2021：半导体器件通用规范第5章电气参数测试

GB/T30215-2013：嵌入式系统电磁兼容性试验方法

JEDECJESD51-14：集成电路热瞬态测试标准

检测设备

KeysightN6705C直流电源分析仪：支持μs级动态功耗采样

TektronixDPO73304SX示波器：70GHz带宽PCIe5.0信号分析

Chroma33622A电源负载一体机：150A脉冲电流模拟能力

FlukeTi480PRO红外热像仪：0.03℃温度分辨率热分布测绘

AnritsuMP1900A误码仪：64GBaudPAM4信号生成与分析

NIPXIe-4139源测量单元：四象限精密电源特性测试

ThermonitorT3Ster瞬态热阻测试系统：基于JEDECJESD51-1标准

Rohde&SchwarzZNB40矢量网络分析仪：40GHz高速接口S参数测试

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与辅助处理器检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。