检测项目
1.介电常数偏差值（εr）：测量频率1MHz-10GHz范围内相对介电常数波动量
2.导电率分布均匀性：分辨率达0.1S/m的二维导电率图谱扫描
3.介质损耗角正切（tanδ）：频率点100kHz/1MHz/10MHz三频段测量
4.阻抗分布均匀性：空间分辨率≤1mm的平面阻抗成像
5.界面接触电阻：接触压力0.5-5N可调条件下的动态电阻测试
检测范围
1.高频PCB基材：聚四氟乙烯（PTFE）、碳氢化合物陶瓷复合材料
2.半导体封装材料：环氧模塑料（EMC）、硅胶灌封材料
3.电磁屏蔽材料：导电泡棉、金属化纤维织物
4.功能涂层：纳米银导电涂层、ITO透明导电膜
5.金属基复合材料：铝碳化硅（AlSiC）、铜-石墨烯复合材料
检测方法
ASTMD150-18：固体电绝缘材料介电常数与损耗因数标准测试
ISO3915:2021：塑料材料体积电阻率和表面电阻率测定
GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
IEC61189-3-719:2022：印制板用材料的介电特性测试规程
GB/T31838.4-2021：复合绝缘材料高频介电性能测试规范
检测设备
KeysightE4990A阻抗分析仪：20Hz-120MHz宽频带阻抗测试系统
Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz频率范围，基本精度0.08%
TDR采样示波器DSA8300：时域反射测量分辨率达20ps
AnritsuMS46322B矢量网络分析仪：10MHz-40GHz扫频S参数测量
Keithley4200A-SCS半导体分析系统：接触电阻测试模块支持100aA级电流测量
NovocontrolAlpha-A高频介电谱仪：频率范围1μHz-20MHz的宽频介电分析
ElectroTechEM-3900导电率成像系统：二维导电率分布测绘精度2%
HIOKIIM3590化学阻抗分析仪：支持10mΩ-100MΩ宽量程测量
TrekModel345高压放大器：配合静电探针实现非接触式阻抗测绘