强谱线检测

检测项目

特征谱线波长精度检测：波长偏差≤±0.02nm（400-800nm波段）

谱线半高宽测量：分辨率要求≥0.005nm@546.07nm

信噪比测试：基线噪声≤0.5mV，峰峰值≥50:1

强度稳定性检测：30min内强度波动≤±1.5%

背景等效浓度测定：BEC值≤0.1ppm（重金属元素）

检测范围

金属合金材料：包括铝合金（2xxx/7xxx系列）、钛合金（TC4/TA15）、高温合金（Inconel 718）

半导体材料：硅晶圆（掺杂浓度1E14-1E20 atoms/cm³）、GaN外延层、ITO薄膜

光学元件：增透膜（400-700nm）、高反膜（1064nm）、滤光片（带通±2nm）

环境样本：PM2.5重金属组分（Pb/Cd/Cr/Hg）、土壤有效态金属

生物医学材料：骨科植入物（Ti6Al4V）、造影剂（Gd基化合物）

检测方法

原子发射光谱法：ASTM E1621-22《电感耦合等离子体原子发射光谱法》

X射线荧光光谱法：ISO 14706:2014《表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法》

激光诱导击穿光谱：GB/T 38257-2019《激光诱导击穿光谱法通则》

辉光放电质谱法：GB/T 40111-2021《高纯金属溅射靶材成分分析》

同步辐射XANES：ISO/TS 21396:2017《纳米技术-同步辐射X射线吸收谱》

检测设备

Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：波长范围166-847nm，光学分辨率0.007nm@Mn 257.610nm

Bruker S8 TIGER XRF：配备HD镧系靶材，检测限达0.1ppm（Cu-Kα）

PerkinElmer Optima 8300 DV：轴向观测等离子体，RSD＜0.5%@1ppm Y

HORIBA LabRAM HR Evolution：532nm激光拉曼系统，光谱分辨率0.35cm⁻¹

Agilent 8900 ICP-MS/MS：质量分辨率＞10,000（10%峰高），MS/MS反应池技术

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"强谱线检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。