浮点数类型检测概述:检测项目1.精度误差分析:单精度(32bit)误差≤1.19e-7,双精度(64bit)误差≤2.22e-162.特殊值处理:NaN(非数)、Infinity(无穷大)、Zero(零值)的生成与传播验证3.舍入模式测试:最近偶数/向零/正负无穷方向舍入的IEEE754-2019R1.3条款验证4.运算单元压力测试:FMA(融合乘加)指令最大吞吐量≥128GFLOPs@3GHz5.异常标志触发:INVALID/OVERFLOW/UNDERFLOW/DIVBYZERO异常信号响应时间≤5ns检测范围1.嵌入式
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.精度误差分析:单精度(32bit)误差≤1.19e-7,双精度(64bit)误差≤2.22e-16
2.特殊值处理:NaN(非数)、Infinity(无穷大)、Zero(零值)的生成与传播验证
3.舍入模式测试:最近偶数/向零/正负无穷方向舍入的IEEE754-2019R1.3条款验证
4.运算单元压力测试:FMA(融合乘加)指令最大吞吐量≥128GFLOPs@3GHz
5.异常标志触发:INVALID/OVERFLOW/UNDERFLOW/DIVBYZERO异常信号响应时间≤5ns
1.嵌入式系统:ARMCortex-M/R/A系列处理器浮点单元
2.工业控制芯片:XilinxZynqUltraScale+RFSoC的FPGA浮点IP核
3.科学计算设备:NVIDIATesla系列GPU的CUDA双精度运算模块
4.金融交易系统:FPGA加速的DEC64格式定点-浮点转换单元
5.航空航天设备:MIL-STD-1750A标准兼容的32位浮点协处理器
ASTME29-20:浮点运算舍入误差的标准实施规程
ISO/IEC60559:2020:信息技术-微处理器系统的浮点运算
GB/T17966-2021:微处理器浮点运算性能测试方法
IEEEStd754-2019:浮点算术标准修订版
IEC61508-3:2010:功能安全标准第7部分浮点容错机制验证
Keysight3458A数字万用表:8.5位分辨率,支持1μV直流电压基准测量
TektronixDPO73304SX示波器:33GHz带宽,用于捕捉FPGA浮点信号时序
NIPXIe-4139精密源表:200V/1A输出能力,芯片供电稳定性测试
XilinxChipScopeProAnalyzer:实时捕获FPGA内部浮点运算数据流
CadencePalladiumZ1仿真平台:全周期模拟RISC-VRV32F/D指令集执行过程
AnritsuMP1900A误码仪:28Gbps高速接口的浮点数据传输完整性验证
R&SRTO6示波器:16位垂直分辨率,支持JESD204B接口协议解码
SynopsysHAPS-80FPGA原型验证系统:多核DSP浮点算法硬件仿真
ThermoScientificMAPS模块化测试平台:-55℃~+150℃环境应力下的运算稳定性测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与浮点数类型检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。