平面化效果检测概述:检测项目表面粗糙度:Ra≤0.8μm|Rz≤6.3μm(触针式测量)平面度公差:局部起伏≤0.05mm/m(激光干涉法)光泽度:60入射角下GU值偏差≤5%(ISO2813)涂层厚度:干膜厚度误差3μm(磁性测厚法)微观划痕:长度>200μm且深度>0.2μm缺陷识别检测范围金属板材:冷轧钢板/铝合金板/铜箔(厚度0.1-6mm)光学膜材:PET离型膜/偏光片/增亮膜(幅宽≤1500mm)印刷基材:UV涂层纸/镭射转移膜(克重80-300g/m)电子元件:FPC柔性电路板/晶圆衬底(尺寸≤300mm)陶瓷
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
表面粗糙度:Ra≤0.8μm|Rz≤6.3μm(触针式测量)
平面度公差:局部起伏≤0.05mm/m(激光干涉法)
光泽度:60入射角下GU值偏差≤5%(ISO2813)
涂层厚度:干膜厚度误差3μm(磁性测厚法)
微观划痕:长度>200μm且深度>0.2μm缺陷识别
金属板材:冷轧钢板/铝合金板/铜箔(厚度0.1-6mm)
光学膜材:PET离型膜/偏光片/增亮膜(幅宽≤1500mm)
印刷基材:UV涂层纸/镭射转移膜(克重80-300g/m)
电子元件:FPC柔性电路板/晶圆衬底(尺寸≤300mm)
陶瓷基板:氧化铝/氮化铝基板(厚度0.25-1.0mm)
ASTMD523-14(2018)镜面光泽度标准测试方法
ISO4287:1997表面粗糙度轮廓法术语定义
GB/T29591-2013表面粗糙度测量方法
ISO25178-2:2012三维表面纹理分析规范
GB/T11344-2008接触式超声波测厚方法
BrukerContourGT-X3三维光学轮廓仪:0.1nm垂直分辨率
MitutoyoSJ-410粗糙度仪:触针半径2μm/量程350μm
Elcometer456涂层测厚仪:磁感应原理/1%精度
KeyenceVHX-7000数字显微镜:5000倍景深合成功能
ZeGagePlus激光干涉仪:λ/1000平面度测量精度
Byko-Test8500划痕测试仪:20N载荷可调划针系统
HunterLabUltraScanVIS分光光度计:10nm波长间隔
Olympus38DLPLUS超声波测厚仪:0.05mm分辨率
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与平面化效果检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。