检测项目

表面粗糙度：Ra≤0.8μm|Rz≤6.3μm（触针式测量）
平面度公差：局部起伏≤0.05mm/m（激光干涉法）
光泽度：60入射角下GU值偏差≤5%（ISO2813）
涂层厚度：干膜厚度误差3μm（磁性测厚法）
微观划痕：长度＞200μm且深度＞0.2μm缺陷识别

检测范围

金属板材：冷轧钢板/铝合金板/铜箔（厚度0.1-6mm）
光学膜材：PET离型膜/偏光片/增亮膜（幅宽≤1500mm）
印刷基材：UV涂层纸/镭射转移膜（克重80-300g/m）
电子元件：FPC柔性电路板/晶圆衬底（尺寸≤300mm）
陶瓷基板：氧化铝/氮化铝基板（厚度0.25-1.0mm）

检测方法

ASTMD523-14(2018)镜面光泽度标准测试方法
ISO4287:1997表面粗糙度轮廓法术语定义
GB/T29591-2013表面粗糙度测量方法
ISO25178-2:2012三维表面纹理分析规范
GB/T11344-2008接触式超声波测厚方法

检测设备

BrukerContourGT-X3三维光学轮廓仪：0.1nm垂直分辨率
MitutoyoSJ-410粗糙度仪：触针半径2μm/量程350μm
Elcometer456涂层测厚仪：磁感应原理/1%精度
KeyenceVHX-7000数字显微镜：5000倍景深合成功能
ZeGagePlus激光干涉仪：λ/1000平面度测量精度
Byko-Test8500划痕测试仪：20N载荷可调划针系统
HunterLabUltraScanVIS分光光度计：10nm波长间隔
Olympus38DLPLUS超声波测厚仪：0.05mm分辨率