共焦二次曲线检测概述:检测项目1.曲率半径误差:测量范围0.1μm至50μm,精度0.05%2.表面粗糙度Ra值:分辨率0.01nm,测量区间0.1nm-10μm3.椭圆度偏差:轴向偏差≤0.5μm/100mm4.非对称性系数:量化分析Zernike多项式前15项像差5.局部斜率误差:角度分辨率0.001,空间采样密度512512像素检测范围1.非球面光学透镜(直径Φ3mm-Φ500mm)2.自由曲面反射镜(PV值≤λ/20@632.8nm)3.半导体晶圆表面形貌(厚度100-800μm)4.精密注塑模具型腔(硬度HRC58-
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1.曲率半径误差:测量范围0.1μm至50μm,精度0.05%
2.表面粗糙度Ra值:分辨率0.01nm,测量区间0.1nm-10μm
3.椭圆度偏差:轴向偏差≤0.5μm/100mm
4.非对称性系数:量化分析Zernike多项式前15项像差
5.局部斜率误差:角度分辨率0.001,空间采样密度512512像素
1.非球面光学透镜(直径Φ3mm-Φ500mm)
2.自由曲面反射镜(PV值≤λ/20@632.8nm)
3.半导体晶圆表面形貌(厚度100-800μm)
4.精密注塑模具型腔(硬度HRC58-62)
5.MEMS微结构阵列(特征尺寸≥5μm)
1.ISO10110-5:2015光学元件表面缺陷公差规范
2.ASTME284-17表面纹理特征标准术语
3.GB/T1800.1-2020产品几何技术规范(GPS)基础
4.ISO14978:2018几何量测量设备通用要求
5.GB/T6062-2009表面粗糙度比较样块检定规程
1.ZygoNewView9000:白光共焦干涉仪,垂直分辨率0.1nm
2.BrukerContourGT-X3:3D光学轮廓仪,最大扫描范围10mm10mm
3.TaylorHobsonPGIOptics:非接触式曲面测量系统,重复精度3nm
4.MitutoyoQuickVisionPro:影像测量系统,光学放大倍率20X-200X
5.OlympusLEXTOLS5000:激光共焦显微镜,横向分辨率120nm
6.KeyenceVR-6000:三维形貌重建系统,点云密度1600万点/秒
7.JenoptikWaveline:多波长干涉仪,支持Φ600mm大口径测量
8.PanasonicUA3P:超精密三坐标仪,空间精度(1.2+L/400)μm
9.ZeissO-INSPECT:复合式测量机,集成接触式与光学探头
10.NikonNEXIVVMZ-S6540:数字显微镜系统,最大倍率3500X
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与共焦二次曲线检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。