演示用二极管检测概述:检测项目正向压降(VF):测试条件IF=10mA时典型值0.3-1.1V反向击穿电压(VBR):施加IR=100μA时击穿阈值≥50V反向漏电流(IR):25℃/VR=80%VBR时≤5μA结电容(Cj):1MHz频率下测量值≤50pF热阻(RθJC):功率耗散1W时温升≤80℃/W检测范围硅整流二极管:1N4007系列等工频电路应用肖特基二极管:SS34等高频开关电源器件稳压二极管:1N4728A系列电压基准元件快恢复二极管:FR307等逆变电路核心组件发光二极管:5mm直插式LED光电参数测试检测方法
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
正向压降(VF):测试条件IF=10mA时典型值0.3-1.1V
反向击穿电压(VBR):施加IR=100μA时击穿阈值≥50V
反向漏电流(IR):25℃/VR=80%VBR时≤5μA
结电容(Cj):1MHz频率下测量值≤50pF
热阻(RθJC):功率耗散1W时温升≤80℃/W
硅整流二极管:1N4007系列等工频电路应用
肖特基二极管:SS34等高频开关电源器件
稳压二极管:1N4728A系列电压基准元件
快恢复二极管:FR307等逆变电路核心组件
发光二极管:5mm直插式LED光电参数测试
正向压降测试:IEC60747-1第5.3条款/GB/T6571-20146.2.2
反向特性测试:JESD22-A115D标准脉冲法测量
热阻测试:MIL-STD-750F方法3172稳态测温
结电容测量:GB/T4586-94高频LCR桥接法
高温反偏试验:JEDECJESD22-A108E1000小时加速老化
KeysightB1505A功率器件分析仪:IV/CV曲线扫描精度0.05%
TektronixDMM4040六位半万用表:最小分辨率10nA/100μV
Chroma19032耐压测试仪:0-5kV可编程直流源
FLUKE289真有效值示波表:带宽200MHz波形采集
ESPECPL-3KFP恒温箱:-70℃~+180℃温控系统
Agilent4284ALCR表:20Hz-1MHz阻抗分析模块
NIPXIe-4143源测量单元:四象限电源同步采集
YOKOGAWAWT1800功率分析仪:0.05%基波精度测量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与演示用二极管检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。