纯离散谱检测

检测项目

1.波长精度验证：测量范围200-2500nm，误差≤0.05nm

2.线宽分析：半高宽（FWHM）分辨率达0.02nm

3.信噪比测试：动态范围≥80dB@1s积分时间

4.峰位重复性：连续10次测量标准差＜0.005nm

5.杂散光抑制：杂散光水平≤10⁻⁶@632.8nm

检测范围

1.半导体材料带隙结构分析

2.光学镀膜反射/透射特性表征

3.稀土掺杂荧光材料发光谱测定

4.量子点尺寸分布光谱验证

5.激光晶体能级跃迁特性测试

检测方法

ASTME275-08(2022)紫外-可见光谱仪性能验证规范

ISO13142:2015激光光谱系统基本参数测量方法

GB/T32212-2015分子光谱仪通用规范

GB/T33352-2016拉曼光谱仪测试方法

IEC61228:2020荧光紫外灯光谱特性测量程序

检测设备

1.OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪：0.02nm光学分辨率，2048像素CCD阵列

2.AgilentCary7000全能型分光光度计：支持190-3300nm全波段扫描

3.HoribaiHR550成像光谱仪：焦长550mm，1200g/mm光栅可选

4.StanfordResearchSR830锁相放大器：1mHz-102kHz频率范围，5ppm线性度

5.AndorShamrockSR-500i光谱仪：三光栅塔轮系统，0.26nm/mm色散率

6.BrukerVERTEX80v真空型FTIR：4cm⁻分辨率下信噪比＞50,000:1

7.Newport818-SL低噪声光电探测器：10W/cm灵敏度@633nm

8.ThorlabsCCS200紧凑型光谱仪：350-1000nm波长范围，0.1nm采样间隔

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"纯离散谱检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。