纯离散谱检测概述:检测项目1.波长精度验证:测量范围200-2500nm,误差≤0.05nm2.线宽分析:半高宽(FWHM)分辨率达0.02nm3.信噪比测试:动态范围≥80dB@1s积分时间4.峰位重复性:连续10次测量标准差<0.005nm5.杂散光抑制:杂散光水平≤10⁻⁶@632.8nm检测范围1.半导体材料带隙结构分析2.光学镀膜反射/透射特性表征3.稀土掺杂荧光材料发光谱测定4.量子点尺寸分布光谱验证5.激光晶体能级跃迁特性测试检测方法ASTME275-08(2022)紫外-可见光谱仪性能验证规范ISO1314
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.波长精度验证:测量范围200-2500nm,误差≤0.05nm
2.线宽分析:半高宽(FWHM)分辨率达0.02nm
3.信噪比测试:动态范围≥80dB@1s积分时间
4.峰位重复性:连续10次测量标准差<0.005nm
5.杂散光抑制:杂散光水平≤10⁻⁶@632.8nm
1.半导体材料带隙结构分析
2.光学镀膜反射/透射特性表征
3.稀土掺杂荧光材料发光谱测定
4.量子点尺寸分布光谱验证
5.激光晶体能级跃迁特性测试
ASTME275-08(2022)紫外-可见光谱仪性能验证规范
ISO13142:2015激光光谱系统基本参数测量方法
GB/T32212-2015分子光谱仪通用规范
GB/T33352-2016拉曼光谱仪测试方法
IEC61228:2020荧光紫外灯光谱特性测量程序
1.OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪:0.02nm光学分辨率,2048像素CCD阵列
2.AgilentCary7000全能型分光光度计:支持190-3300nm全波段扫描
3.HoribaiHR550成像光谱仪:焦长550mm,1200g/mm光栅可选
4.StanfordResearchSR830锁相放大器:1mHz-102kHz频率范围,5ppm线性度
5.AndorShamrockSR-500i光谱仪:三光栅塔轮系统,0.26nm/mm色散率
6.BrukerVERTEX80v真空型FTIR:4cm⁻分辨率下信噪比>50,000:1
7.Newport818-SL低噪声光电探测器:10W/cm灵敏度@633nm
8.ThorlabsCCS200紧凑型光谱仪:350-1000nm波长范围,0.1nm采样间隔
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与纯离散谱检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。