远景细节表现检测概述:检测项目1.空间分辨率测试:最小可分辨线宽0.5-200μm范围2.灰度对比度分析:动态范围≥70dB@1000:13.边缘扩散函数(ESF):MTF50值测量精度0.024.纹理保真度:频率响应20-2000lp/mm5.畸变率测定:径向畸变≤0.15%@全视场检测范围1.光学玻璃及晶体材料(BK7、熔融石英等)2.金属精密加工件(航空铝合金、钛合金结构件)3.高分子聚合物薄膜(PET、PC光学级基材)4.半导体晶圆表面(12英寸硅片图形缺陷)5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.空间分辨率测试:最小可分辨线宽0.5-200μm范围
2.灰度对比度分析:动态范围≥70dB@1000:1
3.边缘扩散函数(ESF):MTF50值测量精度0.02
4.纹理保真度:频率响应20-2000lp/mm
5.畸变率测定:径向畸变≤0.15%@全视场
1.光学玻璃及晶体材料(BK7、熔融石英等)
2.金属精密加工件(航空铝合金、钛合金结构件)
3.高分子聚合物薄膜(PET、PC光学级基材)
4.半导体晶圆表面(12英寸硅片图形缺陷)
5.涂层/镀层体系(AR增透膜、硬质涂层)
ASTME2540-16光学系统调制传递函数测试规程
ISO9039:2019光学系统畸变测定方法
GB/T17409-2018光学传递函数测量方法
ISO12233:2017电子成像分辨率测试图规范
GB/T19863-2005轮廓表面结构测量仪器计量特性校准规范
MitutoyoQV-302PRO三维轮廓仪:垂直分辨率0.1nm,XYZ轴重复精度0.05μm
OlympusLEXTOLS5000激光显微镜:405nm激光波长,12000光学放大倍率
BrukerContourGT-X3白光干涉仪:1垂直分辨率,100mm100mm测量范围
KeyenceVHX-7000数字显微镜:4KCMOS传感器,景深合成精度0.1μm
JenoptikProgResGFscan扫描系统:5000万像素CCD,16bit灰度深度
NikonMM-400测量显微镜:物镜NA0.95,载物台定位精度0.3μm
ZeissAxioImagerM2m金相显微镜:微分干涉对比(DIC)系统配置
ShimadzuAIM-9000红外热像仪:640512像素InSb探测器,NETD<18mK
HexagonLeitzPMM-C超高精度三坐标机:空间精度(1.9+L/250)μm
MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射源(λ=1.5406)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与远景细节表现检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。