晶体动量检测概述:检测项目1.布里渊区声子色散曲线:测量频率范围0.1-50THz2.电子能带结构分析:能量分辨率≤5meV3.费米面拓扑测量:动量分辨率0.005⁻4.晶格振动模式识别:波矢精度0.001r.l.u.5.非弹性散射截面测定:角度偏差<0.02检测范围1.半导体单晶材料(Si,GaAs,GaN等)2.高温超导材料(YBCO,Bi-2212等)3.拓扑绝缘体(Bi₂Se₃,Sb₂Te₃等)4.金属合金(Al-Cu,Ti-Al-V等)5.二维层状材料(石墨烯、MoS₂等)检测方法1.非弹性X射线散射:ISO23
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1.布里渊区声子色散曲线:测量频率范围0.1-50THz
2.电子能带结构分析:能量分辨率≤5meV
3.费米面拓扑测量:动量分辨率0.005⁻
4.晶格振动模式识别:波矢精度0.001r.l.u.
5.非弹性散射截面测定:角度偏差<0.02
1.半导体单晶材料(Si,GaAs,GaN等)
2.高温超导材料(YBCO,Bi-2212等)
3.拓扑绝缘体(Bi₂Se₃,Sb₂Te₃等)
4.金属合金(Al-Cu,Ti-Al-V等)
5.二维层状材料(石墨烯、MoS₂等)
1.非弹性X射线散射:ISO23420:2021
2.角分辨光电子能谱:ASTME3068-17
3.中子三轴谱技术:GB/T36532-2018
4.拉曼光谱法:GB/T36065-2018
5.透射电子能量损失谱:ISO/TS21383:2021
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:9kW旋转阳极光源
2.SPECSPHOIBOS150电子分析仪:半球形能量分析器
3.ThermoFisherNexsaG2光电子能谱仪:微聚焦X射线源
4.BrukerVertex80v傅里叶红外光谱仪:液氮冷却MCT探测器
5.JEOLJEM-ARM300F球差电镜:0.08nm空间分辨率
6.HoribaLabRAMHREvolution拉曼系统:532/633/785nm多波长激光器
7.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台:PIXcel3D探测器阵列
8.OxfordInstrumentsTriton低温系统:10mK基础温度环境
9.KeysightN5234C矢量网络分析仪:300kHz-43.5GHz频率范围
10.AgilentCary7000全能型分光光度计:175-3300nm光谱覆盖
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与晶体动量检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。