检测项目

1.布里渊区声子色散曲线：测量频率范围0.1-50THz
2.电子能带结构分析：能量分辨率≤5meV
3.费米面拓扑测量：动量分辨率0.005⁻
4.晶格振动模式识别：波矢精度0.001r.l.u.
5.非弹性散射截面测定：角度偏差＜0.02

检测范围

1.半导体单晶材料（Si,GaAs,GaN等）
2.高温超导材料（YBCO,Bi-2212等）
3.拓扑绝缘体（Bi₂Se₃,Sb₂Te₃等）
4.金属合金（Al-Cu,Ti-Al-V等）
5.二维层状材料（石墨烯、MoS₂等）

检测方法

1.非弹性X射线散射：ISO23420:2021
2.角分辨光电子能谱：ASTME3068-17
3.中子三轴谱技术：GB/T36532-2018
4.拉曼光谱法：GB/T36065-2018
5.透射电子能量损失谱：ISO/TS21383:2021

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源
2.SPECSPHOIBOS150电子分析仪：半球形能量分析器
3.ThermoFisherNexsaG2光电子能谱仪：微聚焦X射线源
4.BrukerVertex80v傅里叶红外光谱仪：液氮冷却MCT探测器
5.JEOLJEM-ARM300F球差电镜：0.08nm空间分辨率
6.HoribaLabRAMHREvolution拉曼系统：532/633/785nm多波长激光器
7.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台：PIXcel3D探测器阵列
8.OxfordInstrumentsTriton低温系统：10mK基础温度环境
9.KeysightN5234C矢量网络分析仪：300kHz-43.5GHz频率范围
10.AgilentCary7000全能型分光光度计：175-3300nm光谱覆盖