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里斯位势检测

  • 原创官网
  • 2025-05-26 19:27:40
  • 关键字:里斯位势测试机构,里斯位势测试周期,里斯位势测试案例
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里斯位势检测概述:检测项目1.表面电位分布:测量范围20kV/m,分辨率≤0.1V2.电场强度梯度:精度2%,量程0-50kV/m3.电荷衰减时间:测试周期0.1s-3600s,温度控制0.5℃4.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,误差≤0.5%5.体积电阻率:测试电压DC100V-1000V,环境湿度≤30%RH检测范围1.半导体晶圆与封装材料2.高分子绝缘薄膜(PET/PC/PI)3.金属镀层与防静电涂料4.电子元器件封装壳体5.航空航天复合材料层压板检测方法GB/T12703.7-2020《纺织品静电性能第7


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.表面电位分布:测量范围20kV/m,分辨率≤0.1V

2.电场强度梯度:精度2%,量程0-50kV/m

3.电荷衰减时间:测试周期0.1s-3600s,温度控制0.5℃

4.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,误差≤0.5%

5.体积电阻率:测试电压DC100V-1000V,环境湿度≤30%RH

检测范围

1.半导体晶圆与封装材料

2.高分子绝缘薄膜(PET/PC/PI)

3.金属镀层与防静电涂料

4.电子元器件封装壳体

5.航空航天复合材料层压板

检测方法

GB/T12703.7-2020《纺织品静电性能第7部分:动态静电压测定》

ASTMD257-14《绝缘材料直流电阻测试标准》

ISO3915:2022《塑料-体积电阻率测定》

GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》

IEC61340-2-3:2016《静电学第2-3部分:测量方法-电荷衰减》

检测设备

1.Keithley6517B静电计:分辨率0.1fA,最大电压1kV

2.Trek347型高压电源:输出20kVDC,精度0.05%

3.Monroe284A表面电位扫描仪:扫描速度10cm/s,空间分辨率1mm

4.AgilentE4980ALCR表:频率范围20Hz-2MHz,基本精度0.05%

5.Electro-TechSystemsModel718电荷衰减测试台:温度范围-40℃~150℃

6.MitsubishiChemicalSM-8220介电常数分析仪:测试厚度0.01-10mm

7.SimcoFMX-003静电场强计:量程20kV/m带温湿度补偿

8.HIOKIIM3570阻抗分析仪:四端对测量模式支持10mΩ~100MΩ

9.KeysightB2987A超高阻计:最大电阻测量10PΩ@1000V

10.OphirPD300-PJ高精度功率探头:响应时间20ns@50kV脉冲

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与里斯位势检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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