里斯位势检测概述:检测项目1.表面电位分布:测量范围20kV/m,分辨率≤0.1V2.电场强度梯度:精度2%,量程0-50kV/m3.电荷衰减时间:测试周期0.1s-3600s,温度控制0.5℃4.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,误差≤0.5%5.体积电阻率:测试电压DC100V-1000V,环境湿度≤30%RH检测范围1.半导体晶圆与封装材料2.高分子绝缘薄膜(PET/PC/PI)3.金属镀层与防静电涂料4.电子元器件封装壳体5.航空航天复合材料层压板检测方法GB/T12703.7-2020《纺织品静电性能第7
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.表面电位分布:测量范围20kV/m,分辨率≤0.1V
2.电场强度梯度:精度2%,量程0-50kV/m
3.电荷衰减时间:测试周期0.1s-3600s,温度控制0.5℃
4.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,误差≤0.5%
5.体积电阻率:测试电压DC100V-1000V,环境湿度≤30%RH
1.半导体晶圆与封装材料
2.高分子绝缘薄膜(PET/PC/PI)
3.金属镀层与防静电涂料
4.电子元器件封装壳体
5.航空航天复合材料层压板
GB/T12703.7-2020《纺织品静电性能第7部分:动态静电压测定》
ASTMD257-14《绝缘材料直流电阻测试标准》
ISO3915:2022《塑料-体积电阻率测定》
GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》
IEC61340-2-3:2016《静电学第2-3部分:测量方法-电荷衰减》
1.Keithley6517B静电计:分辨率0.1fA,最大电压1kV
2.Trek347型高压电源:输出20kVDC,精度0.05%
3.Monroe284A表面电位扫描仪:扫描速度10cm/s,空间分辨率1mm
4.AgilentE4980ALCR表:频率范围20Hz-2MHz,基本精度0.05%
5.Electro-TechSystemsModel718电荷衰减测试台:温度范围-40℃~150℃
6.MitsubishiChemicalSM-8220介电常数分析仪:测试厚度0.01-10mm
7.SimcoFMX-003静电场强计:量程20kV/m带温湿度补偿
8.HIOKIIM3570阻抗分析仪:四端对测量模式支持10mΩ~100MΩ
9.KeysightB2987A超高阻计:最大电阻测量10PΩ@1000V
10.OphirPD300-PJ高精度功率探头:响应时间20ns@50kV脉冲
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与里斯位势检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。