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三态缓冲器检测

  • 原创官网
  • 2025-05-27 15:55:52
  • 关键字:三态缓冲器测试范围,三态缓冲器测试标准,三态缓冲器项目报价
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三态缓冲器检测概述:检测项目输入高电平电压(V_IH):最小值≥2.0V@5V供电输入低电平电压(V_IL):最大值≤0.8V@5V供电输出漏电流(I_OZ):≤10μA@高阻态传输延迟时间(t_PD):≤15ns@50MHz信号驱动能力(I_OL/I_OH):24mA@额定负载三态控制响应时间(t_EN/t_DIS):≤8ns@使能/禁用切换检测范围CMOS工艺三态缓冲器(74HC125系列)TTL工艺三态缓冲器(74LS244系列)高速总线驱动器(SN74LVC8T245)低功耗三态门电路(CD4503B)抗辐射加固型缓


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

输入高电平电压(V_IH):最小值≥2.0V@5V供电

输入低电平电压(V_IL):最大值≤0.8V@5V供电

输出漏电流(I_OZ):≤10μA@高阻态

传输延迟时间(t_PD):≤15ns@50MHz信号

驱动能力(I_OL/I_OH):24mA@额定负载

三态控制响应时间(t_EN/t_DIS):≤8ns@使能/禁用切换

检测范围

CMOS工艺三态缓冲器(74HC125系列)

TTL工艺三态缓冲器(74LS244系列)

高速总线驱动器(SN74LVC8T245)

低功耗三态门电路(CD4503B)

抗辐射加固型缓冲器(RH1024)

检测方法

GB/T17574-2021《半导体器件分立器件和集成电路》第7.3节

IEC60747-4-3:2017《分立半导体器件测试方法》

ASTMF1241-2015(2020)数字集成电路传输延迟测试规范

GB/T34325-2017《半导体集成电路总线驱动器测试方法》

JESD22-A114F静电放电敏感度分级测试

检测设备

KeysightDSOX4034A示波器:500MHz带宽,支持眼图分析

TektronixAFG31000信号发生器:250MHz方波输出,上升时间≤3ns

Keithley2606B系统源表:四象限电源加载能力40V/3A

Chroma3380P集成电路测试仪:128通道并行测试架构

AgilentB1505A功率器件分析仪:nA级漏电流测量精度

Fluke8846A精密万用表:6.5位分辨率直流参数测量

ThermoStreamT-2900温控系统:-65℃~+150℃循环测试

EMTestDPI6110电磁干扰测试系统:IEC62132-4标准验证

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与三态缓冲器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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