检测项目

输入高电平电压（V_IH）：最小值≥2.0V@5V供电

输入低电平电压（V_IL）：最大值≤0.8V@5V供电

输出漏电流（I_OZ）：≤10μA@高阻态

传输延迟时间（t_PD）：≤15ns@50MHz信号

驱动能力（I_OL/I_OH）：24mA@额定负载

三态控制响应时间（t_EN/t_DIS）：≤8ns@使能/禁用切换

检测范围

CMOS工艺三态缓冲器（74HC125系列）

TTL工艺三态缓冲器（74LS244系列）

高速总线驱动器（SN74LVC8T245）

低功耗三态门电路（CD4503B）

抗辐射加固型缓冲器（RH1024）

检测方法

GB/T17574-2021《半导体器件分立器件和集成电路》第7.3节

IEC60747-4-3:2017《分立半导体器件测试方法》

ASTMF1241-2015(2020)数字集成电路传输延迟测试规范

GB/T34325-2017《半导体集成电路总线驱动器测试方法》

JESD22-A114F静电放电敏感度分级测试

检测设备

KeysightDSOX4034A示波器：500MHz带宽，支持眼图分析

TektronixAFG31000信号发生器：250MHz方波输出，上升时间≤3ns

Keithley2606B系统源表：四象限电源加载能力40V/3A

Chroma3380P集成电路测试仪：128通道并行测试架构

AgilentB1505A功率器件分析仪：nA级漏电流测量精度

Fluke8846A精密万用表：6.5位分辨率直流参数测量

ThermoStreamT-2900温控系统：-65℃~+150℃循环测试

EMTestDPI6110电磁干扰测试系统：IEC62132-4标准验证