射线正比计数器检测概述:检测项目1.能量分辨率测试:测量FWHM(半高宽)值(典型范围0.8-2.5keV@5.9keV)2.线性范围验证:覆盖15keV-3MeV能量区间偏差≤1.5%3.本底噪声分析:暗电流≤0.1nA(工作电压≤2000V时)4.探测效率校准:55Fe(5.9keV)至241Am(59.5keV)特征峰效率≥85%5.长期稳定性测试:8小时连续工作计数率波动≤0.8%检测范围1.核工业用密封放射源(241Am/55Fe/109Cd等)2.医疗CT设备X射线管组件3.半导体材料缺陷分析样品(Si/Ge单晶片)
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.能量分辨率测试:测量FWHM(半高宽)值(典型范围0.8-2.5keV@5.9keV)
2.线性范围验证:覆盖15keV-3MeV能量区间偏差≤1.5%
3.本底噪声分析:暗电流≤0.1nA(工作电压≤2000V时)
4.探测效率校准:55Fe(5.9keV)至241Am(59.5keV)特征峰效率≥85%
5.长期稳定性测试:8小时连续工作计数率波动≤0.8%
1.核工业用密封放射源(241Am/55Fe/109Cd等)
2.医疗CT设备X射线管组件
3.半导体材料缺陷分析样品(Si/Ge单晶片)
4.环境监测用低本底α/β探测器
5.安检设备能谱识别模块(<100keV能区)
ASTME181-17:辐射探测器电性能测试标准方法
ISO4037-3:2019:X和γ参考辐射剂量测定规范
GB/T12162.3-2021:X辐射防护用剂量测量第3部分
IEC60789-2018:医用电气设备X射线管组件测试
GB/T24246-2021:放射性核素活度测量正比计数器法
1.ORTECModelAN34:多道脉冲幅度分析系统(0-10V输入范围)
2.Canberra2007P:精密高压电源(0-5000V/0.1%精度)
3.AmptekXR-100CR:低温制冷型Si-PIN探测器(FWHM<145eV)
4.RigakuNEXCG系列:微焦点X射线源(4-50kV可调)
5.MirionTechnologiesPIPSPD300-15:表面钝化离子注入型探测器
6.ThermoFisherARLEQUINOX100:XRD/XRF复合分析平台
7.BrukerXFlash6130:硅漂移探测器(能量分辨率129eV)
8.HAMAMATSUC1090BL:铍窗正比计数管(φ50mm有效面积)
9.Keysight33522B:函数信号发生器(80MHz带宽)
10.TektronixMDO3104:混合域示波器(1GHz采样率)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与射线正比计数器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。