射线正比计数器检测

检测项目1.能量分辨率测试:测量FWHM(半高宽)值(典型范围0.8-2.5keV@5.9keV)2.线性范围验证:覆盖15keV-3MeV能量区间偏差≤1.5%3.本底噪声分析:暗电流≤0.1nA(工作电压≤2000V时)4.探测效率校准:55Fe(5.9keV)至241Am(59.5keV)特征峰效率≥85%5.长期稳定性测试:8小时连续工作计数率波动≤0.8%检测范围1.核工业用密封放射源(241Am/55Fe/109Cd等)2.医疗CT设备X射线管组件3.半导体材料缺陷分析样品(Si/Ge单晶片)

原创阅读 142025-05-27工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.能量分辨率测试:测量FWHM(半高宽)值(典型范围0.8-2.5keV@5.9keV)

2.线性范围验证:覆盖15keV-3MeV能量区间偏差≤1.5%

3.本底噪声分析:暗电流≤0.1nA(工作电压≤2000V时)

4.探测效率校准:55Fe(5.9keV)至241Am(59.5keV)特征峰效率≥85%

5.长期稳定性测试:8小时连续工作计数率波动≤0.8%

检测范围

1.核工业用密封放射源(241Am/55Fe/109Cd等)

2.医疗CT设备X射线管组件

3.半导体材料缺陷分析样品(Si/Ge单晶片)

4.环境监测用低本底α/β探测器

5.安检设备能谱识别模块(<100keV能区)

检测方法

ASTME181-17:辐射探测器电性能测试标准方法

ISO4037-3:2019:X和γ参考辐射剂量测定规范

GB/T12162.3-2021:X辐射防护用剂量测量第3部分

IEC60789-2018:医用电气设备X射线管组件测试

GB/T24246-2021:放射性核素活度测量正比计数器法

检测设备

1.ORTECModelAN34:多道脉冲幅度分析系统(0-10V输入范围)

2.Canberra2007P:精密高压电源(0-5000V/0.1%精度)

3.AmptekXR-100CR:低温制冷型Si-PIN探测器(FWHM<145eV)

4.RigakuNEXCG系列:微焦点X射线源(4-50kV可调)

5.MirionTechnologiesPIPSPD300-15:表面钝化离子注入型探测器

6.ThermoFisherARLEQUINOX100:XRD/XRF复合分析平台

7.BrukerXFlash6130:硅漂移探测器(能量分辨率129eV)

8.HAMAMATSUC1090BL:铍窗正比计数管(φ50mm有效面积)

9.Keysight33522B:函数信号发生器(80MHz带宽)

10.TektronixMDO3104:混合域示波器(1GHz采样率)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
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  • 非标测试:支持定制化试验方案。
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