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内存逃逸检测

  • 原创官网
  • 2025-05-27 18:22:05
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内存逃逸检测概述:检测项目1.离子迁移率测试:测量Na+、K+等离子在0-100℃范围内的扩散系数(单位:cm/s)2.介电强度衰减:评估1-10kV电压下介质击穿时间(单位:s)3.表面绝缘电阻:测试10^6-10^12Ω范围变化(依据IPC-TM-6502.6.3)4.热失重分析:记录200-400℃区间质量损失率(精度0.1μg)5.湿度扩散系数:测定85℃/85%RH条件下水汽渗透速率(单位:gmm/mday)检测范围1.半导体封装用环氧模塑料(EMC)2.高密度互连基板(HDI)阻焊层3.晶圆级封装用临时键合胶4


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.离子迁移率测试:测量Na+、K+等离子在0-100℃范围内的扩散系数(单位:cm/s)

2.介电强度衰减:评估1-10kV电压下介质击穿时间(单位:s)

3.表面绝缘电阻:测试10^6-10^12Ω范围变化(依据IPC-TM-6502.6.3)

4.热失重分析:记录200-400℃区间质量损失率(精度0.1μg)

5.湿度扩散系数:测定85℃/85%RH条件下水汽渗透速率(单位:gmm/mday)

检测范围

1.半导体封装用环氧模塑料(EMC)

2.高密度互连基板(HDI)阻焊层

3.晶圆级封装用临时键合胶

4.5G基站滤波器银浆

5.新能源汽车IGBT模块硅凝胶

检测方法

1.ASTMF1249-20:水蒸气透过率标准测试法

2.ISO16750-4:2018:道路车辆电气电子设备环境试验

3.GB/T2423.3-2016:恒定湿热试验方法

4.JEDECJESD22-A101D:稳态温度湿度偏压寿命试验

5.IPC-TM-6502.6.25:离子迁移电化学测试法

检测设备

1.NetzschTG209F3Tarsus:热重分析仪(温度范围RT-1000℃,分辨率0.1μg)

2.Agilent4294A精密阻抗分析仪(40Hz-110MHz频率范围)

3.ESPECPL-3KPH气候箱(温控精度0.5℃,湿度2%RH)

4.KeysightB1505A功率器件分析仪(最大电压3000V/1500A)

5.Metrohm930离子色谱仪(检出限0.1ppb)

6.HiokiIR4056-20绝缘电阻计(测量范围110^4~110^16Ω)

7.BrukerContourElite光学轮廓仪(垂直分辨率0.1nm)

8.ThermoFisherNexsaXPS表面分析系统(空间分辨率7.5μm)

9.MettlerToledoDL39库仑法水分仪(测量范围10ppm-100%)

10.GamryInterface5000P电化学工作站(最大电流2A)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与内存逃逸检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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