内存逃逸检测概述:检测项目1.离子迁移率测试:测量Na+、K+等离子在0-100℃范围内的扩散系数(单位:cm/s)2.介电强度衰减:评估1-10kV电压下介质击穿时间(单位:s)3.表面绝缘电阻:测试10^6-10^12Ω范围变化(依据IPC-TM-6502.6.3)4.热失重分析:记录200-400℃区间质量损失率(精度0.1μg)5.湿度扩散系数:测定85℃/85%RH条件下水汽渗透速率(单位:gmm/mday)检测范围1.半导体封装用环氧模塑料(EMC)2.高密度互连基板(HDI)阻焊层3.晶圆级封装用临时键合胶4
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.离子迁移率测试:测量Na+、K+等离子在0-100℃范围内的扩散系数(单位:cm/s)
2.介电强度衰减:评估1-10kV电压下介质击穿时间(单位:s)
3.表面绝缘电阻:测试10^6-10^12Ω范围变化(依据IPC-TM-6502.6.3)
4.热失重分析:记录200-400℃区间质量损失率(精度0.1μg)
5.湿度扩散系数:测定85℃/85%RH条件下水汽渗透速率(单位:gmm/mday)
1.半导体封装用环氧模塑料(EMC)
2.高密度互连基板(HDI)阻焊层
3.晶圆级封装用临时键合胶
4.5G基站滤波器银浆
5.新能源汽车IGBT模块硅凝胶
1.ASTMF1249-20:水蒸气透过率标准测试法
2.ISO16750-4:2018:道路车辆电气电子设备环境试验
3.GB/T2423.3-2016:恒定湿热试验方法
4.JEDECJESD22-A101D:稳态温度湿度偏压寿命试验
5.IPC-TM-6502.6.25:离子迁移电化学测试法
1.NetzschTG209F3Tarsus:热重分析仪(温度范围RT-1000℃,分辨率0.1μg)
2.Agilent4294A精密阻抗分析仪(40Hz-110MHz频率范围)
3.ESPECPL-3KPH气候箱(温控精度0.5℃,湿度2%RH)
4.KeysightB1505A功率器件分析仪(最大电压3000V/1500A)
5.Metrohm930离子色谱仪(检出限0.1ppb)
6.HiokiIR4056-20绝缘电阻计(测量范围110^4~110^16Ω)
7.BrukerContourElite光学轮廓仪(垂直分辨率0.1nm)
8.ThermoFisherNexsaXPS表面分析系统(空间分辨率7.5μm)
9.MettlerToledoDL39库仑法水分仪(测量范围10ppm-100%)
10.GamryInterface5000P电化学工作站(最大电流2A)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与内存逃逸检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。