


概述:检测项目1.薄膜厚度测量:精度1nm(范围50nm-50μm)2.成分分析:元素含量偏差≤0.5at%3.表面粗糙度:Ra值0.1-10nm区间测定4.附着力测试:划痕法临界载荷≥20N5.残余应力检测:压应力/拉应力范围500MPa检测范围1.半导体材料:硅基/碳化硅基CVD外延层2.金属镀层:钨/钼/钛等难熔金属沉积层3.陶瓷涂层:氮化铝/碳化硅防护镀膜4.光学镀膜:二氧化硅/氟化镁多层膜系5.聚合物薄膜:聚酰亚胺/Parylene功能涂层检测方法ASTMF1241-2018CVD膜厚椭偏测量法ISO
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.薄膜厚度测量:精度1nm(范围50nm-50μm)
2.成分分析:元素含量偏差≤0.5at%
3.表面粗糙度:Ra值0.1-10nm区间测定
4.附着力测试:划痕法临界载荷≥20N
5.残余应力检测:压应力/拉应力范围500MPa
1.半导体材料:硅基/碳化硅基CVD外延层
2.金属镀层:钨/钼/钛等难熔金属沉积层
3.陶瓷涂层:氮化铝/碳化硅防护镀膜
4.光学镀膜:二氧化硅/氟化镁多层膜系
5.聚合物薄膜:聚酰亚胺/Parylene功能涂层
ASTMF1241-2018CVD膜厚椭偏测量法
ISO14606:2015X射线光电子能谱成分分析
GB/T16525-2017半导体晶圆表面缺陷检验规程
ASTMC1624-2015CVD涂层划痕附着力测试
GB5237.5-2016铝合金建筑型材氟碳涂层检测
1.J.A.WoollamM-2000椭偏仪:0.01nm厚度分辨率
2.ThermoFisherESCALABXi+XPS系统:元素探测限0.1at%
3.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:0.05nm纵向分辨率
4.CSMRevetest划痕测试仪:最大载荷100N精度0.1N
5.RigakuSmartLabX射线衍射仪:应力分析精度10MPa
6.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:三维形貌重建功能
7.Agilent7900ICP-MS:ppb级杂质元素定量分析
8.ZygoNewView9000白光干涉仪:表面粗糙度测量重复性0.02nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"化学汽相淀积检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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