杂散电容检测概述:检测项目1.分布电容值测量(0.1pF-100nF范围/0.5%精度)2.介质损耗角正切值测定(频率1kHz-1MHz/分辨率0.0001)3.温度系数验证(-55℃~+125℃温变环境)4.频率特性分析(DC-10GHz频段扫描)5.绝缘电阻同步测试(DC500V/10^12Ω量程)检测范围1.高频PCB基材(FR4、RogersRO4003系列)2.高压绝缘材料(聚酰亚胺薄膜、云母板)3.半导体封装材料(环氧模塑料、硅凝胶)4.多层陶瓷电容器(MLCC/X7R/X5R介质)5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.分布电容值测量(0.1pF-100nF范围/0.5%精度)
2.介质损耗角正切值测定(频率1kHz-1MHz/分辨率0.0001)
3.温度系数验证(-55℃~+125℃温变环境)
4.频率特性分析(DC-10GHz频段扫描)
5.绝缘电阻同步测试(DC500V/10^12Ω量程)
1.高频PCB基材(FR4、RogersRO4003系列)
2.高压绝缘材料(聚酰亚胺薄膜、云母板)
3.半导体封装材料(环氧模塑料、硅凝胶)
4.多层陶瓷电容器(MLCC/X7R/X5R介质)
5.电力电子模块(IGBT驱动电路、SiCMOSFET组件)
ASTMD150-11介电性能标准测试法(电极系统配置规范)
IEC60250:1969交流电压下介质损耗测量导则
GB/T1409-2006固体绝缘材料介电性能试验方法
JISC2138-2007电气绝缘材料介电特性测定法
MIL-STD-202GMethod302介质耐电压测试规程
KeysightE4980A精密LCR表(20Hz-2MHz/0.05%基本精度)
Agilent4294A阻抗分析仪(40Hz-110MHz/四端对测量)
Trek347静电计(10aA分辨率/0.05%电压精度)
Chroma19032耐压测试仪(AC5kV/DC6kV输出)
ESPECPCT-322温控箱(-70℃~+180℃循环系统)
AnritsuMS46322B矢量网络分析仪(10MHz-20GHz/S参数测量)
HIOKIIM3536LCR测试仪(DC偏置40V/四线制配置)
Keithley6517B高阻计(10^17Ω输入阻抗/0.1fA灵敏度)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与杂散电容检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。