检测项目
1. 中性盐雾试验时长(24-2000h)
2. 铜盐加速盐雾试验时长(24-720h)
3. 腐蚀等级(0-10级)
4. 绝缘电阻变化率(0-50%)
5. 外观缺陷面积(0-100%)
检测范围
1. 芯片引脚：铜合金/铁镍合金
2. 封装外壳：塑料/陶瓷
3. LED支架：PPA/PCT材质
4. 芯片粘接材料：导电银胶
5. 金属盖板：镀镍/镀金
检测方法
1. GB/T 2423.17-2008 盐雾试验方法
2. IEC 60068-2-11:1981 盐雾试验
3. GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验
4. ASTM B117-2019 盐雾试验标准
5. JIS Z 2371:2015 盐雾试验方法
检测设备
1. 盐雾试验箱(YW/Q-250)：容积250L
2. 喷雾塔(雾化1-2ml/h)
3. pH计(Mettler FE28)：精度0.01
4. 氯化钠溶液配制系统(浓度5%)
5. 沉降收集器(80cm²)
6. 恒温恒湿箱(ESPEC SH-261)：-40~150℃
7. 表面电阻测试仪(HIOKI IM3570)：精度1%
8. 数码显微镜(Keyence VHX-7000)：放大20-5000倍