检测项目

1.表面形貌分析：扫描电镜（SEM）下测量粗糙度Ra（0.1-100μm）、台阶高度（10nm-10μm）
2.晶粒尺寸测定：金相显微镜配合ImageJ软件统计平均晶粒尺寸（1-500μm），符合ASTME112标准
3.薄膜厚度测量：透射电镜（TEM）截面分析厚度范围0.5-500nm，误差≤3%
4.元素分布表征：能谱仪（EDS）实现Be-U元素面分布分析，探测限0.1wt%
5.三维结构重构：激光共聚焦显微镜Z轴分辨率0.2μm（物镜40X/NA0.95）

检测范围

1.金属材料：铝合金晶界腐蚀深度（GB/T3246.1）、不锈钢夹杂物评级（ISO4967）
2.半导体器件：芯片焊点空洞率（IPC-A-610）、晶圆线宽CD测量（SEMIMF1812）
3.高分子材料：塑料薄膜结晶度测定（ISO11357）、橡胶填料分散度分析
4.生物医学样本：细胞超微结构观察（TEM）、组织切片厚度验证（ISO8037）
5.纳米材料：量子点粒径分布统计（动态光散射法GB/T24369）

检测方法

1.ASTMB748-90(2021)：扫描电镜定量测量覆层厚度方法
2.ISO16700:2016：微束分析-扫描电镜校准规程
3.GB/T27760-2020：扫描电镜测量纳米颗粒粒度方法
4.ISO10934:2020：光学显微镜术语与定义体系
5.GB/T18873-2017：生物样品透射电镜制备规范

检测设备

1.ZEISSGeminiSEM500：场发射扫描电镜，分辨率0.8nm@15kV
2.OlympusBX53M：工业金相显微镜，配备DP27数码相机（2000万像素）
3.ThermoFisherTalosF200X：透射电镜配备SuperXEDS系统
4.KeyenceVK-X3000：激光共聚焦显微镜Z轴重复性0.02μm
5.BrukerContourGT-K1：白光干涉仪垂直分辨率0.01nm
6.LeicaDM2700M：偏光显微镜带热台系统（RT-600℃）
7.HitachiRegulus8100：冷场发射电镜加速电压0.5-30kV
8.NikonEclipseLV150N：大样品明暗场显微镜载物台行程300200mm
9.JEOLJSM-7900F：超高分辨扫描电镜分辨率0.6nm@15kV
10.CarlZeissAxioImagerM2m：全自动材料显微镜带ECEpiplan物镜组

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与显微成像检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。