波长精度检测:校准范围200-2500nm,允许偏差±0.1nm
光谱分辨率检测:要求达到≤0.05nm(可见光波段)
透射率测量:检测范围0-100%,重复性误差<0.2%
反射率分析:入射角调节范围5°-80°,精度±0.1°
杂散光水平测定:紫外区≤0.0005%,可见光区≤0.001%
光学薄膜:包括增透膜、反射膜、滤光片等镀膜器件
半导体材料:GaAs、SiC等光电材料的带隙分析
玻璃制品:光学镜头、视窗材料的透过率检测
液体样品:溶液吸光度、浓度定量分析
金属镀层:表面反射特性及氧化层厚度测定
波长校准:ISO 7944:1998《光学系统波长标定规程》
透射率检测:ASTM E275-08《可见光分光光度计描述与性能》
反射率测量:GB/T 14571-2013《镜面反射比测量方法》
杂散光测试:JIS K 0115:2004《分光光度分析法通则》
光谱响应分析:GB/T 26180-2010《光谱光度测量标准方法》
PerkinElmer Lambda 1050+:双光束分光光度计,光谱范围175-3300nm
Shimadzu UV-3600 Plus:三检测器系统,积分球直径150mm
Agilent Cary 7000:全自动可变角绝对反射测量模块
JASCO V-770:双单色器设计,分辨率0.1nm
Hitachi UH4150:高灵敏度PMT检测器,杂散光≤0.0003%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光学分光计检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。