检测项目
波长精度检测：校准范围200-2500nm，允许偏差±0.1nm
光谱分辨率检测：要求达到≤0.05nm（可见光波段）
透射率测量：检测范围0-100%，重复性误差＜0.2%
反射率分析：入射角调节范围5°-80°，精度±0.1°
杂散光水平测定：紫外区≤0.0005%，可见光区≤0.001%
检测范围
光学薄膜：包括增透膜、反射膜、滤光片等镀膜器件
半导体材料：GaAs、SiC等光电材料的带隙分析
玻璃制品：光学镜头、视窗材料的透过率检测
液体样品：溶液吸光度、浓度定量分析
金属镀层：表面反射特性及氧化层厚度测定
检测方法
波长校准：ISO 7944:1998《光学系统波长标定规程》
透射率检测：ASTM E275-08《可见光分光光度计描述与性能》
反射率测量：GB/T 14571-2013《镜面反射比测量方法》
杂散光测试：JIS K 0115:2004《分光光度分析法通则》
光谱响应分析：GB/T 26180-2010《光谱光度测量标准方法》
检测设备
PerkinElmer Lambda 1050+：双光束分光光度计，光谱范围175-3300nm
Shimadzu UV-3600 Plus：三检测器系统，积分球直径150mm
Agilent Cary 7000：全自动可变角绝对反射测量模块
JASCO V-770：双单色器设计，分辨率0.1nm
Hitachi UH4150：高灵敏度PMT检测器，杂散光≤0.0003%