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光学分光计检测

  • 原创官网
  • 2025-03-10 15:29:54
  • 关键字:光学分光计测试仪器,光学分光计测试周期,光学分光计测试案例
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光学分光计检测概述:光学分光计检测通过精确测量材料的光学特性,为质量控制、研发分析提供关键数据。本文涵盖核心检测项目、适用材料范围、标准化检测方法及专业设备配置,重点解析波长精度、透射率、反射率等参数的检测要求,符合ASTM、ISO、GB/T等国际国内技术规范。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

波长精度检测:校准范围200-2500nm,允许偏差±0.1nm

光谱分辨率检测:要求达到≤0.05nm(可见光波段)

透射率测量:检测范围0-100%,重复性误差<0.2%

反射率分析:入射角调节范围5°-80°,精度±0.1°

杂散光水平测定:紫外区≤0.0005%,可见光区≤0.001%

检测范围

光学薄膜:包括增透膜、反射膜、滤光片等镀膜器件

半导体材料:GaAs、SiC等光电材料的带隙分析

玻璃制品:光学镜头、视窗材料的透过率检测

液体样品:溶液吸光度、浓度定量分析

金属镀层:表面反射特性及氧化层厚度测定

检测方法

波长校准:ISO 7944:1998《光学系统波长标定规程》

透射率检测:ASTM E275-08《可见光分光光度计描述与性能》

反射率测量:GB/T 14571-2013《镜面反射比测量方法》

杂散光测试:JIS K 0115:2004《分光光度分析法通则》

光谱响应分析:GB/T 26180-2010《光谱光度测量标准方法》

检测设备

PerkinElmer Lambda 1050+:双光束分光光度计,光谱范围175-3300nm

Shimadzu UV-3600 Plus:三检测器系统,积分球直径150mm

Agilent Cary 7000:全自动可变角绝对反射测量模块

JASCO V-770:双单色器设计,分辨率0.1nm

Hitachi UH4150:高灵敏度PMT检测器,杂散光≤0.0003%

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光学分光计检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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