检测项目

波长漂移量：±0.02 nm（-40℃至85℃）

温度稳定性系数：≤0.01 nm/°C（恒流模式）

光谱半宽变化率：±5%（1000小时持续工作）

振动诱导波长偏移：≤0.03 nm（10-2000Hz随机振动）

长期老化漂移：±0.15 nm（5000小时加速寿命测试）

检测范围

半导体激光器（DFB/FP/VCSEL）

光学薄膜滤光片（带通/陷波/二向色）

光纤布拉格光栅（FBG）

荧光材料（LED/磷光体）

量子点发光器件

检测方法

ASTM E275-08：光谱仪器波长校准规程

ISO 24010：光纤通信器件波长稳定性测试

GB/T 13321-2009：激光器波长测量方法

IEC 62129-3：光波长计校准规范

GB/T 31351-2014：光电子器件环境试验方法

检测设备

Agilent 86120B多波长计：0.02 nm分辨率，1520-1625 nm范围

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪：600-1750 nm波长，0.02 nm精度

Espec PL-3J温控箱：-70℃至+180℃线性温变控制

LDS V955振动台：5-3000Hz随机振动谱生成

Newport 2936-R光功率稳定系统：±0.001 dB功率波动抑制

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与波长稳定性检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。