检测项目

插入损耗：≤0.3dB（1310/1550nm波长）

分光比偏差：50:50±5%（C波段）

回波损耗：≥45dB（PC/APC端面）

偏振相关损耗：≤0.1dB（单模光纤）

温度循环性能：-40℃~+85℃下参数变化率＜10%

检测范围

单模光纤耦合器（SMF-28e+）

多模光纤耦合器（OM3/OM4）

熔融拉锥型耦合器（1×2/2×2结构）

平面波导型耦合器（PLC型）

保偏光纤耦合器（PANDA型）

检测方法

插入损耗：IEC 61300-3-4剪断法

分光比：GB/T 9771.3-2020光功率计比对法

回波损耗：Telcordia GR-1209-CORE OTDR反射法

偏振特性：IEC 61300-3-32偏振控制器扫描法

环境试验：GB/T 2423.22-2012交变湿热试验规程

检测设备

插入损耗测试仪：EXFO FTB-200，精度±0.02dB

光谱分析仪：Yokogawa AQ6370D，波长范围600~1700nm

回波损耗测试仪：Keysight N7788B，动态范围＞60dB

高低温试验箱：Espec SU-221，温控精度±0.5℃

偏振控制器：General Photonics PCD-104，消光比＞30dB

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光纤耦合器检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。