检测项目

波长精度校准：±0.2nm（200-900nm波段）

吸光度线性度验证：0.1-3.0Abs范围内误差≤±1%

杂散光水平测试：220nm处≤0.01%T

基线平直度评估：±0.001Abs（全波段扫描）

辐射通量稳定性：±0.3%/h（连续运行测试）

检测范围

金属镀层薄膜：测量紫外-可见光区反射率特性

半导体晶圆：检测光致发光光谱及带隙能量

光学玻璃材料：分析透射/散射光谱曲线

荧光标记生物制剂：量化荧光发射光谱强度

环境监测滤膜：测定特定波长吸光度值

检测方法

ASTM E275-08：紫外可见分光计性能验证标准

ISO 11348-1：水质生物发光抑制试验光谱检测法

GB/T 13366-2009：工业材料辐射特性测试规范

ISO 9342-2：分光光度计杂散光测试规程

GB/T 32212-2015：分子光谱分析仪器通用规范

检测设备

PerkinElmer Lambda 1050+：双光束分光系统，检测范围175-3300nm

Shimadzu UV-2600i：积分球附件支持漫反射测量

Agilent Cary 7000：全自动可变角绝对反射率系统

Hitachi F-7100：荧光分光模块带温控样品仓

Ocean Insight FX系列：光纤耦合微型光谱仪，分辨率0.1nm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与辐射分光计检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。