欢迎访问北检(北京)检测技术研究院!全国服务热线:400-635-0567

极性半导体检测

  • 原创官网
  • 2025-03-14 15:13:57
  • 关键字:极性半导体测试标准,极性半导体测试案例,极性半导体测试机构
  • 相关:

极性半导体检测概述:极性半导体检测是评估材料电学特性的重要技术手段,主要涵盖载流子迁移率、禁带宽度等核心参数检测。检测过程需依据国际标准(如ASTM、ISO)及国家标准(如GB/T),采用精密仪器对III-V族化合物、宽禁带半导体等材料进行定量分析,确保数据准确性和材料性能可靠性。


便捷导航:首页 > 服务项目 > 其他检测

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

载流子浓度检测:测量范围1E14~1E19 cm⁻³,误差≤±5%

载流子迁移率分析:测试条件300K~500K,精度±2 cm²/(V·s)

禁带宽度测定:光谱范围200~2500 nm,分辨率0.1 eV

介电常数测试:频率1kHz~1MHz,温度稳定性±0.5%

热导率检测:温度范围-50~300℃,测量精度±3%

检测范围

III-V族化合物半导体:GaAs、InP、GaN等

II-VI族宽禁带半导体:ZnO、CdS、ZnSe等

氧化物半导体:TiO₂、SnO₂、WO₃等

有机半导体材料:并五苯、酞菁铜等

异质结结构材料:AlGaN/GaN、SiC/Si等

检测方法

霍尔效应测试:ASTM F76,GB/T 13392

紫外-可见分光光度法:ISO 21501,GB/T 9721

四探针电阻率测试:ASTM F84,GB/T 1551

热扩散法热导率检测:ISO 22007,GB/T 3651

椭圆偏振光谱分析:ISO 14762,GB/T 18901

检测设备

Keithley 4200A-SCS参数分析仪:支持DC~1MHz电学参数测试

Agilent Cary 7000紫外可见分光光度计:波长范围190~3300 nm

Linseis LFA 1000激光导热仪:温度范围-120~500℃

Horiba UVISEL 2椭圆偏振仪:光谱范围190~2100 nm

Lake Shore 8400系列霍尔测试系统:磁场强度0~2T,温度范围10~400K

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与极性半导体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

服务项目