


1.基板与芯材厚度:印刷电路板总厚度、绝缘层厚度、半固化片厚度、陶瓷基板厚度。
2.导电镀层厚度:孔内铜镀层厚度、表面线路铜厚、金镀层厚度、银镀层厚度、镍镀层厚度。
3.表面处理层厚度:化学沉金层厚度、化学沉锡层厚度、有机保焊膜厚度、浸银层厚度。
4.阻焊与标识层厚度:液态感光阻焊油墨厚度、字符印刷层厚度。
5.导热与界面材料厚度:导热硅胶片厚度、相变材料厚度、绝缘胶片厚度。
6.封装材料厚度:芯片粘结层厚度、塑封体厚度、晶圆减薄后厚度。
7.柔性材料厚度:柔性电路板基材厚度、覆盖膜厚度、增强板厚度。
8.涂层与镀膜厚度:防潮涂层厚度、电磁屏蔽层厚度、光学减反射膜厚度。
9.焊料层厚度:焊膏印刷厚度、焊锡涂层厚度。
10.微观结构层厚度:薄膜晶体管各层厚度、半导体外延层厚度。
11.材料均匀性评估:厚度面内分布均匀性、批间厚度一致性。
刚性印刷电路板、高密度互连板、柔性电路板、陶瓷电路板、覆铜板、半导体晶圆、引线框架、发光二极管支架、贴片电子元件、连接器、散热片、导热垫片、电子模块、电子封装外壳、焊锡球、导电胶膜、电磁屏蔽材料、光学镜片镀膜元件
1.扫描电子显微镜:用于对元器件截面进行超高倍率观察与测量,可精确分析多层结构的界面与各层厚度;具备出色的景深和分辨率。
2. X射线荧光测厚仪:用于无损、快速地测量金属镀层及多层膜厚度;通过分析特征X射线荧光强度进行计算。
3.白光干涉仪:用于非接触式测量表面形貌与薄膜厚度;利用白光干涉原理,精度可达纳米级别。
4.金相显微镜:用于对封装体、镀层等样品制备的截面进行观察和厚度测量;需配合专业的切割、镶嵌、研磨和抛光制样流程。
5.螺旋测微器:用于高精度接触式测量基板、板材等规则样品的整体厚度;机械结构精密,测量重复性好。
6.激光共聚焦显微镜:用于对粗糙表面或透明膜层进行三维形貌扫描与厚度测量;具有光学断层扫描能力。
7.涡流测厚仪:用于快速无损测量非导电基材上的导电金属镀层厚度;基于电磁感应原理。
8.磁性测厚仪:用于测量磁性基体上的非磁性镀层厚度,或非磁性基体上的磁性镀层厚度;原理为磁吸力或磁感应变化。
9.超声波测厚仪:用于测量单层或多层材料的整体厚度;通过计算超声波在材料中的传播时间来实现。
10.轮廓测量仪:用于测量台阶高度和薄膜厚度;通过探针扫描表面轮廓,获得高度差数据。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"厚度测试"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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