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全自动光学检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:36:02
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全自动光学检测概述:全自动光学检测(AOI)通过非接触式成像技术实现高精度质量分析,适用于电子元件、精密制造等领域。核心检测参数包括尺寸公差(±0.01mm)、表面缺陷识别(≥5μm)、颜色偏差(ΔE≤0.5)等。检测过程严格遵循ISO1101、ASTME3025及GB/T1800.2标准,确保数据可追溯性与重复性误差≤1.5%。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

尺寸精度测量:平面度公差±0.02mm/100mm,孔径偏差±0.005mm

表面缺陷识别:划痕深度≥2μm,凹坑直径≥10μm

颜色一致性分析:色差ΔE≤0.8(CIE Lab标准)

焊点质量评估:焊锡厚度0.1-0.3mm,润湿角35°-55°

装配完整性验证:元件偏移量≤0.05mm,引脚共面性≤0.03mm

检测范围

电子元器件:PCB基板/BGA封装/连接器引脚

金属加工件:精密齿轮/航空紧固件/医疗器械部件

注塑制品:光学透镜/密封圈/微型结构件

半导体器件:晶圆表面/芯片焊盘/引线框架

复合材料:碳纤维铺层/陶瓷基板/多层膜结构

检测方法

尺寸测量:ISO 1101几何公差标准/GB/T 1800.2极限与配合

表面缺陷检测:ASTM E3025数字图像分析法/GB/T 15757表面缺陷术语

颜色分析:ISO 11664-4色度学标准/GB/T 7921均匀色空间规范

焊点检验:IPC-A-610G电子组装验收条件/JB/T 7485软钎焊通用技术条件

三维形貌重建:ISO 25178表面纹理分析/GB/T 33523产品几何技术规范

检测设备

Keyence IM-8000系列:配备2000万像素CMOS传感器,支持0.3μm/pixel分辨率

Omron VT-S730系统:集成12波长多光谱光源,实现ΔE≤0.1的色差分析

Hexagon Optiv Performance 443:配置双远心镜头,测量重复性达±0.6μm

Cognex In-Sight 9000视觉系统:内置PatMax RedLine定位算法,处理速度500fps

Mitutoyo Quick Vision Active系列:搭载激光位移传感器,Z轴精度±0.8μm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与全自动光学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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