微裂纹检测:裂纹长度≥5μm,深度分辨率≤2μm
孔隙率分析:孔隙直径10-500μm,分布密度误差≤0.5%
分层缺陷定位:层间分离厚度≥0.1mm,定位精度±0.05mm
残余应力分布:测量范围±1500MPa,空间分辨率50μm
界面结合强度:结合面缺陷检出率≥99%,信噪比>30dB
金属基复合材料:钛铝基合金、碳化硅增强铝基材料
电子封装器件:BGA封装、3D-TSV芯片堆叠结构
精密陶瓷部件:氮化硅轴承、氧化锆齿科植入体
航空航天结构:涡轮叶片热障涂层、蜂窝夹层板
新能源器件:固态电池极片、燃料电池双极板
ASTM E1441-19:超声阵列声场成像标准
ISO 23865:2021:复合材料分层缺陷定量评估方法
GB/T 12604.1-2020:无损检测术语标准
GB/T 34370.5-2017:承压设备无损检测规范
ISO 18563-2:2017:超声相控阵设备性能验证方法
CVE-Scan 8000型电子束声全息系统:配备200kV场发射电子枪,最大扫描频率10MHz,支持多物理场耦合分析模块
Sonotron ISONIC M/S:256通道超声阵列采集系统,轴向分辨率0.02mm,配备自适应聚焦算法
TESCAN Mira FEG-SEM:集成EDS/EBSD的扫描电镜平台,支持原位声学信号同步采集
Olympus OmniScan MX3:64晶片相控阵探头组,符合EN 12668-1标准校准要求
Keysight DSOX1204A示波器:4通道同步采集系统,带宽200MHz,采样率2GSa/s
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与电子束扫描声全息检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。