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光纤损伤探检测

  • 原创官网
  • 2025-03-17 11:07:14
  • 关键字:光纤损伤探测试方法,光纤损伤探测试案例,光纤损伤探项目报价
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光纤损伤探检测概述:光纤损伤检测是保障光通信系统可靠性的关键技术环节,主要针对断裂强度、衰减特性及几何参数等核心指标进行量化分析。本文系统阐述光纤损伤的标准化检测流程,涵盖单模/多模光纤、特种光纤等材料的断裂阈值(≥4.5GPa)、衰减系数偏差(±0.03dB/km)等关键参数的测量方法,依据IEC60793、GB/T15972等规范要求执行OTDR测试与机械性能试验。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

断裂强度测试:拉伸力范围0-50N,断裂阈值≥4.5GPa

衰减系数测量:波长范围1310/1550nm±10nm,允许偏差±0.03dB/km

几何尺寸分析:纤芯直径8.2±0.5μm,包层直径125±1μm

弯曲损耗测试:弯曲半径15mm±0.1mm,温度范围-40℃~+85℃

涂层附着力测试:剥离力≥1.4N/cm,位移分辨率0.01mm

检测范围

单模光纤:G.652D/G.657系列通信光纤

多模光纤:OM3/OM5等级多模光缆

特种光纤:抗弯曲光纤/掺铒光纤/光子晶体光纤

光纤预制棒:直径80-150mm石英基材

OPGW光缆:铝包钢线径3.0-4.5mm复合结构

检测方法

断裂强度:ASTM D4566-2014/GB/T 15972.31-2021三点弯曲法

衰减系数:IEC 60793-1-40:2019/GB/T 15972.45-2021截断法

几何尺寸:IEC 60793-1-20:2014/GB/T 15972.21-2021显微镜测量法

弯曲损耗:ITU-T G.657.A2:2022/GB/T 9771.3-2020缠绕测试法

涂层附着力:ASTM D4565-2015/GB/T 15972.32-2021剥离试验法

检测设备

万能材料试验机:INSTRON 5967型,载荷精度±0.5%

光时域反射仪:EXFO FTB-200平台,动态范围45dB

光纤几何分析仪:Yokogawa AQ1200系统,分辨率0.01μm

弯曲损耗测试系统:Viavi T-Bend 5000装置,曲率控制±0.05mm

涂层附着力测试仪:Instron Peel Tester 3343型,速度控制0.1-500mm/min

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光纤损伤探检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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