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电子亲和势检测

  • 原创官网
  • 2025-03-17 11:07:17
  • 关键字:电子亲和势测试范围,电子亲和势测试仪器,电子亲和势测试方法
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电子亲和势检测概述:电子亲和势检测是评估材料表面电子特性的重要手段,通过精确测量材料捕获电子的能力,为半导体、催化及新能源材料研发提供关键数据。本文围绕检测项目、范围、方法及设备展开阐述,涵盖电离能测定、结合能分析等核心参数,并依据ASTM、ISO及国家标准规范操作流程。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

电离能测定:能量范围0.1-10 eV,精度±0.05 eV

电子结合能分析:分辨率≤0.1 eV

表面功函数测量:重复性误差<2%

电荷转移效率测试:动态范围1×10⁻¹⁵~1×10⁻⁶ A

吸附态电子密度评估:灵敏度≥10¹² cm⁻²

检测范围

半导体材料:硅基材料、III-V族化合物(如GaAs)

金属合金:镍基高温合金、钛铝合金

纳米复合材料:碳纳米管/石墨烯复合体系

催化材料:铂族贵金属催化剂、过渡金属氧化物

有机光电材料:共轭聚合物(如P3HT)、钙钛矿薄膜

检测方法

紫外光电子能谱法(UPS):ASTM E1588-20《表面化学分析标准指南》

开尔文探针力显微术(KPFM):ISO 18117:2009《表面分析样品处理规范》

场发射能量分析法(FEEA):GB/T 28893-2012《表面化学分析术语》

光致脱附谱技术(PDS):GB/T 19500-2004《X射线光电子能谱分析方法通则》

扫描隧道谱法(STS):ISO 16700:2016《微束分析扫描电镜校准指南》

检测设备

Thermo Scientific ESCALAB 250Xi:配备单色化Al Kα X射线源(1486.6 eV),支持UPS/XPS联用分析

Bruker Dimension Icon原子力显微镜:集成KPFM模块,空间分辨率<5 nm

Scienta Omicron DA30-L:半球形能量分析器,能量分辨率<3 meV@1 eV通能

SPECS PHOIBOS 150 CCD:多通道探测系统,适用于同步辐射光源环境

CreaTec FischerScan HCP-03:高温高压原位测试腔体(最高1300℃/10⁻⁶ mbar)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与电子亲和势检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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