


能量分辨率:测量范围为1keV-10MeV,相对误差≤0.5%
时间分辨率:最小可测时间间隔50ps-10ns
探测效率:针对α/β/γ粒子分别设定60-99%验收阈值
噪声本底:暗计数率≤100cps/cm²(25℃工况)
线性响应度:在动态范围1:10⁶内偏差<±1.5%
半导体探测器材料:硅漂移室(SDD)、碲锌镉(CZT)
闪烁体探测器:NaI(Tl)、BGO、LYSO晶体
气体探测器:多丝正比室(MWPC)、漂移管阵列
光电倍增管:双碱/超双碱型光阴极组件
复合探测器:CsI+Si-PIN混合探测模块
ASTM E2677-19:半导体探测器能量刻度方法
ISO 20042:2019:放射性测量用γ谱仪性能验证
GB/T 13179-2021:闪烁体光输出测量规范
IEC 62327-2017:手持式辐射探测装置性能要求
GB 11685-2021:高纯锗γ谱仪本底测试方法
ORTEC GEM-Series高纯锗能谱仪:能量分辨率<0.15%@1.33MeV
CAEN DT5720时间数字转换器:25ps时间测量精度
HAMAMATSU C12137绝对光产额测试系统:波长覆盖200-850nm
ISOTOPE Solutions HPGe校准源组:活度不确定度±1.2%(k=2)
Crytur SCINTI_TEST3闪烁体综合测试平台:温度控制范围-40℃~150℃
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"带电粒子探器检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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