1.谱线半高宽(FWHM):测量波长范围200-2500nm,精度0.02nm
2.峰谷比(PVR):动态范围≥60dB,分辨率0.1dB
3.基线漂移量:最大允许偏差0.5%FS
4.洛伦兹分量占比:拟合误差≤1.5%
5.高斯展宽系数:计算范围0.1-5.0cm⁻
1.光学镀膜材料(增透膜、反射膜、滤光片)
2.半导体晶圆(硅基、GaN、SiC衬底)
3.荧光粉及量子点发光材料
4.金属表面等离子体共振器件
5.光纤布拉格光栅传感器
ASTME903-20《材料光谱反射率的标准测试方法》
ISO14706:2014《表面化学分析-俄歇电子能谱-谱线校准》
GB/T13320-2007《金属材料金相图谱定量分析方法》
ISO15470:2017《表面化学分析-X射线光电子能谱-强度标定》
GB/T29731-2013《表面化学分析扫描探针显微镜原子力显微镜的校准》
1.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪:532/633/785nm多波长激发源
2.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:峰值力轻敲模式分辨率0.1nm
3.AgilentCary7000全能型分光光度计:波长精度0.08nm
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:405nm激光光源Z轴分辨率1nm
5.PerkinElmerLambda1050+紫外可见近红外分光光度计:杂散光<0.00007%T
6.ThermoScientificNicoletiS50傅里叶红外光谱仪:DTGS检测器信噪比50,000:1
7.ZeissCrossbeam550聚焦离子束电镜:1nm束斑尺寸EDX分析系统
8.RenishawinViaQontor共焦拉曼系统:空间分辨率<300nm
9.Keysight5500原子力显微镜:声学噪声抑制<20pmRMS
10.ShimadzuIRAffinity-21傅里叶变换红外光谱仪:波数精度0.01cm⁻
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与几何谱线宽度检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。